德國(guó)斯派克分析儀器公司SPECTRO全新研發(fā)的垂直同步雙觀測(cè)（DSOI）技術(shù)為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術(shù)解決了等離子體觀測(cè)的核心問(wèn)題，靈敏度是傳統(tǒng)垂直觀測(cè)等離子體儀器的數(shù)倍，性能價(jià)格比優(yōu)異。

在分析測(cè)定微量元素和處理具有挑戰(zhàn)性基質(zhì)的樣品（包括某些廢水、土壤和淤泥，以及工業(yè)化學(xué)品、高鹽樣品和金屬的樣品）方面具有顯著的優(yōu)勢(shì)。SPECTROGREEN光譜儀是環(huán)境和農(nóng)學(xué)的常用分析系統(tǒng)，同時(shí)也是消費(fèi)品安全、藥品、石化產(chǎn)品、化學(xué)品和食品行業(yè)的理想選擇。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

手持合金分析儀的應(yīng)用：合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域必不可少的快速成份鑒定工具。

手持合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定此元素的量。如此一來(lái)，XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

直讀光譜儀器日常分析中造成曲線漂移的因素很多：透鏡受到污染形成涂層、激發(fā)過(guò)程中電極長(zhǎng)尖會(huì)使曲線顯示背景增大，亞氣流量、壓力、純度和室溫環(huán)境的變化等原因會(huì)造成曲線的漂移，因此，經(jīng)常校正工作曲線是非常重要的。選擇一組標(biāo)準(zhǔn)化樣品是不易的，其中包括所有要分析元素的高含量和低含量，這些標(biāo)準(zhǔn)化樣品必須均勻一致，激發(fā)光譜分析的數(shù)據(jù)重復(fù)性必須很高。同時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)化樣品的數(shù)量應(yīng)盡可能少些，因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)化樣品價(jià)格昂貴，且對(duì)每個(gè)樣品的操作又需要額外時(shí)間。直讀光譜儀器為什么要選擇高低標(biāo)樣？在單點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化中，只需要高或低含量的標(biāo)準(zhǔn)。如果樣品覆蓋的含量范圍較寬，又要在低含量時(shí)有較高的精度，此時(shí)才需要兩點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化，這時(shí)要有兩種標(biāo)樣，一為高標(biāo)，一為低標(biāo)?；蛘呙總€(gè)標(biāo)樣中包含一些高濃度元素和另一些低濃度元素，只要它們能包括所有元素就行。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

光譜儀維修必學(xué)的準(zhǔn)則

“先易后難”：先解決比較容易的問(wèn)題，再逐步處理比較棘手的故障。儀器發(fā)生故障時(shí)，尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障，對(duì)于解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手，比如：檢修儀器的電路板，應(yīng)先檢查電容、電阻、電感、二極管、三極管、保險(xiǎn)絲、接插件、開(kāi)關(guān)、指示燈等，在排除完這些元件故障后，再檢查集成電路、大功率管、功率模塊、專用傳感器、接口IC、微處理器IC、存儲(chǔ)器IC等，有條有序的檢查。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制