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膜厚測試儀值得信賴“本信息長期有效”

發(fā)布時間:2020-12-19 06:44  

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一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

X熒光鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片選擇與使用


1.一般要求

   使用可靠的參考標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器。后的測量不確定度直接取決于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊的測量不確定度和測量精度。

   參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層,如果是合金,則應(yīng)知其組成。參考標(biāo)準(zhǔn)塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層,規(guī)定以厚度為單位(而不是單位面積質(zhì)量)的標(biāo)準(zhǔn)塊,將是可靠的。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能7計算機(jī)系統(tǒng)配置IBM計算機(jī):1。合金組成的測定,校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不需要相同,但應(yīng)當(dāng)已知。

金屬箔標(biāo)準(zhǔn)片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標(biāo)準(zhǔn)片,就必須注意確保接觸清潔,無皺折紐結(jié)。任何密度差異,除非測量允許,否則必須進(jìn)行補(bǔ)償后再測。

2.標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇

可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器,厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料,但對試樣基材為合金成分的,有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測試樣基材不同,但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。44M軟驅(qū),40G硬盤,CD-ROM,鼠標(biāo),鍵盤,17寸彩顯,56K調(diào)制解調(diào)器。

3.標(biāo)準(zhǔn)塊的X射線發(fā)射(或吸收)特性及使用

   校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射(或吸收)特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定,則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性,通過比較被測試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強(qiáng)度,然后通過軟件達(dá)到對儀器的校正。



江蘇一六儀器    我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。005um江蘇一六儀器X射線熒光鍍層測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域集成電路是國民經(jīng)濟(jì)首要突破的行業(yè),中國現(xiàn)代制造業(yè)的發(fā)展,集成電路是基礎(chǔ)。

-樣品觀察系統(tǒng)高分辨、彩色、實時CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

7計算機(jī)系統(tǒng)配置IBM計算機(jī):1.6G奔騰IV處理器,256M內(nèi)存,1.44M軟驅(qū),40G硬盤,CD-ROM,鼠標(biāo),鍵盤,17寸彩顯,56K調(diào)制解調(diào)器。惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī)。

8分析應(yīng)用軟件操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺中文分析軟件包:SmartlinkFP軟件包


江蘇一六儀器    X射線熒光鍍層測厚儀  元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   

                                                     厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物 

     x射線熒光鍍層測厚儀(國產(chǎn))是一款針對金屬電鍍層(鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等)厚度的,通過X熒光照射出產(chǎn)品,每個元素反射出的二次特征譜線,通過檢測器分析出強(qiáng)度來金屬鍍層的厚度,完全達(dá)到無損、快速分析的效果,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電鍍企業(yè)(鋁平行管、電鍍五金),連接器企業(yè)、開關(guān)企業(yè)等。可靠性高:由于測試過程無人為干擾因素,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。

     x射線熒光鍍層測厚儀性能優(yōu)勢

采用高度定位激光,可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

minimum  φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求

移動平臺可定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm

鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點x射線熒光鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)

一次可同時分析多達(dá)五層鍍層

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)

分析含量一般為2ppm到99.9%