儀一六儀器 快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件.

測(cè)厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測(cè)厚儀

四、電解式（庫倫法）

五、金相測(cè)試法

六、非破壞熒光式（X光）

1.渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦liu產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。將測(cè)頭垂直接觸工件的測(cè)量面，并輕壓測(cè)頭的加載套，當(dāng)測(cè)頭與被測(cè)工件表面接觸穩(wěn)定后，隨著一聲蜂鳴聲，屏幕將顯示標(biāo)識(shí)和測(cè)量值。

2.同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

一六儀器-------鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x

X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素

X射線源的衰減對(duì)于工廠現(xiàn)場(chǎng)的的標(biāo)定過程中,隨著使用時(shí)間的增加,燈管的曲線會(huì)發(fā)生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時(shí)間的遞加,厚度偏差會(huì)越來越大,因此,X射線源的衰減,是影響測(cè)量精度的一個(gè)主要原因。除了正常使用過程中X射線源會(huì)出現(xiàn)衰減,在出現(xiàn)某些故障是,也會(huì)發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化通過不過,反饋的電壓與工廠現(xiàn)場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度肯定是不準(zhǔn)確的。鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x---一六儀器歡迎咨詢聯(lián)系X射線熒光是由原級(jí)X射線照射待測(cè)樣品時(shí)所產(chǎn)生的次級(jí)X射線，入射的X射線具有相對(duì)較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。

一六儀器X射線熒光測(cè)厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

不同種類的測(cè)厚儀的應(yīng)用

1、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

2、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，一六儀器從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。

應(yīng)用領(lǐng)域：

線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽離子檢測(cè)

3、涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.