大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

測量項(xiàng)目

? 量子効率（量子收率）測量

? 激勵(lì)波長依賴性測量

? 發(fā)光光譜測量

? PL激勵(lì)光譜測量

? EEM（Excitation Emission Matrix）測量

用　途

? LED、有機(jī)EL用熒光體的量子効率（量子收率）測量

? 膜狀樣品的透過熒光?反射熒光的量子効率（量子收率）測量

-　非接觸式熒光粉用熒光體樣品等

? 量子Dot、熒光探頭、生體領(lǐng)域、包接化合物等的熒光測量

? 色素敏化型太陽電池的量子効率（量子收率）測量

? 絡(luò)化物化合物的測量

精度高的理由

積分半球的理想的光學(xué)系

QE-2000搭載了積分半球。積分半球與積分球（全球）相比，有以下特點(diǎn)

? 可將非發(fā)光部分（手柄等）隔離在外部，有效控制了自我吸收，實(shí)現(xiàn)了理想的光學(xué)系。

? 通過鏡子可將同一測量點(diǎn)的發(fā)光強(qiáng)度增加約2倍，測量的感光度好

? 輕松裝卸樣品測量用cell、劃傷積分球內(nèi)部的風(fēng)險(xiǎn)小