ICP光譜儀原理是什么？

ICP光譜儀又稱分析儀，廣泛為認知的為直讀ICP光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫，散系統(tǒng)，一個成像系統(tǒng)和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。當光譜儀發(fā)生故障時，尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障，解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手，如檢修儀器的電路板時，先檢查電阻、電容、二極管等，再檢查集成電路、大功率模塊、微處理器IC等。

ICP光譜儀的工作原理：

根據(jù)現(xiàn)代ICP光譜儀器的工作原理，ICP光譜儀可以分為兩大類：經(jīng)典ICP光譜儀和新型ICP光譜儀。經(jīng)典ICP光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型ICP光譜儀器是建立在調(diào)制原理上的儀器。經(jīng)典ICP光譜儀器都是狹縫ICP光譜儀器。調(diào)制ICP光譜儀是非空間分析的，它采用圓孔進光。根據(jù)色散組件的分析原理，ICP光譜儀器可分為：棱鏡ICP光譜儀，衍射光柵ICP光譜儀和干涉ICP光譜儀。2、從樣品激發(fā)到計算機報出元素分析含量只需20-30秒鐘,速度非?？?有利于縮短冶煉時間,降低成本。

光學(xué)多道分析儀OMA是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。

由于OMA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率;使用OMA分析光譜，測量準確迅速，方便，且靈敏度高，響應(yīng)時間快，光譜分辨率高，測量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中，特別適應(yīng)于對微弱信號，瞬變信號的檢測。例如，在檢查半導(dǎo)體材料硅和鍺是不是達到了高純度的要求時，就要用到光太陽光譜譜分析。

ICP光源觀察方式

水平觀察：又稱為軸向觀察或端視觀測，是采用水平放置的ICP光譜儀炬管，“火焰”氣流方向與采光光路方向呈水平重合;可使整個火焰?zhèn)€個部分的光都全部通過狹縫。水平觀察方式的優(yōu)點是：由于整個“火焰”各個部分的光都可以被采集導(dǎo)致靈敏度高，對簡單樣品有較好的檢出限;其缺點：基體效應(yīng)和電離干擾大，線性范圍小，炬管溶液積炭和積鹽而沾污，需要及時清洗和維護，RF功率設(shè)置不能一般不超過1350W;使用于光譜儀水質(zhì)分析中。出現(xiàn)這種現(xiàn)象首先要看計算機屏幕是否有對話框提示，根據(jù)對話框提示來判斷是那哪方式的熄火。

ICP光譜儀的校正

ICP光譜儀校正的目的是消除環(huán)境溫度造成的光學(xué)系統(tǒng)漂移與機械震動造成的機械位移。通常，在儀器安裝調(diào)試過程中首先要進行光學(xué)系統(tǒng)校正；在嚴格按操作程序操作，并排除人為誤操作的基礎(chǔ)上，再分析儀器自身運行是否存在問題。在儀器正常使用過程中根據(jù)環(huán)境溫度的條件適當進行光學(xué)系統(tǒng)校正。 在PRODIGY儀器中，由于儀器本身有恒溫系統(tǒng)，操作人員只要控制儀器達到恒溫條件，即可正常進行分析測量，無須頻繁校正光學(xué)系統(tǒng)。

波長校正

在使用任何一個元素、任何一個波長進行分析測量之前，都要做波長校正。波長校正的目的是：對事先存儲在譜線庫中的理論波長坐標位置進行修正、保證實際使用的波長坐標位置準確。

儀器安裝調(diào)試以后，波長校正不需要經(jīng)常做。如果實驗室溫度變化較大，應(yīng)適當進行波長校正。