超高速數(shù)據(jù)采集

超高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)即采用超高采樣速率對數(shù)據(jù)進(jìn)行采集的系統(tǒng)。采樣率、分辨率為評價超高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的技術(shù)指標(biāo)。超高速ADC采集板卡——模/數(shù)轉(zhuǎn)換器模/數(shù)轉(zhuǎn)換器是整個數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的核心，它的性能直接限制系統(tǒng)的性能。超高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)設(shè)計主要是設(shè)計A/D轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)存儲兩大模塊，此外，還應(yīng)兼顧后續(xù)數(shù)字信號處理部分。超高速數(shù)據(jù)采集技術(shù)也廣泛應(yīng)用在雷達(dá)、通信、聲納、遙感、地質(zhì)勘探、振動工程、無損檢測、智能儀器、語音處理、光時間域反射測量、物質(zhì)光譜學(xué)與光譜測量、生物醫(yī)學(xué)工程等多個領(lǐng)域。

北京和力達(dá)科技有限公司致力于極弱光檢測及高速信號采集和處理服務(wù)，我司主要提供極弱光檢測及檢測相關(guān)的產(chǎn)品應(yīng)用和推廣服務(wù)，我們具有專業(yè)的業(yè)務(wù)和研發(fā)團(tuán)隊，為您提供快速而周到的產(chǎn)品應(yīng)用和定制服務(wù)。一個模擬信號首先經(jīng)過預(yù)采樣濾波器，對信號進(jìn)行調(diào)理，然后由采樣器在每個采樣時刻讀出一個數(shù)據(jù)。想了解更多關(guān)于超高速ADC采集板卡 的相關(guān)資訊，請持續(xù)關(guān)注本公司。

同步多個ADC或高速數(shù)據(jù)采集卡

時鐘信號：前面板上的時鐘參考信號或通過PXI 背板提供一個通用的參考時鐘。這個共同的時鐘參考保證了同步的長期穩(wěn)定性。

有三種情況:時鐘的同步是至關(guān)重要的:

1. 在單獨的通道上進(jìn)行數(shù)據(jù)的獲取，時間戳用于測量單個脈沖的時間，并在通道之間進(jìn)行比較。

2. 記錄非常長的記錄。(例如，時鐘頻率的1ppm偏差意味著在106的記錄結(jié)束時一個采樣點偏差)。

3. 連續(xù)的多個板流到PC上。如果不相鎖，數(shù)據(jù)速率會有所不同。

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ADC——速度和精度

模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的速度根據(jù)其種類有較大的差異。威爾金森模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器受到其時鐘率的限制。頻率超過300兆赫茲已經(jīng)成為可能。轉(zhuǎn)換所需的時間直接與通道的數(shù)量成比例。主要的輸出選項是CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)、LVDS(低壓差分信令)，以及CML(電流模式邏輯)。對于一個逐次逼近（successive-approximation）模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，其轉(zhuǎn)換時間與通道數(shù)量的對數(shù)成比例。這樣，大量通道可以使逐次逼近轉(zhuǎn)換器比威爾金森轉(zhuǎn)換器快。然而，威爾金斯轉(zhuǎn)換器小號的時間是數(shù)字的，而逐次逼近轉(zhuǎn)換器是模擬的。由于模擬的自身就比數(shù)字的更慢，當(dāng)通道數(shù)量增加，所需的時間也增加。這樣，其在工作時具有相互競爭的過程。Flash模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器是這三種里面快的一種，轉(zhuǎn)換基本是以一個單獨平行的過程。對于一個8位單元，轉(zhuǎn)換可以在十幾個納秒的時間內(nèi)完成。

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