江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些

   影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過程中，可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見，也是需要注意的一個(gè)點(diǎn)。因此我們也就得對影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。

3)人為因素。這中情況經(jīng)常會發(fā)生在新用戶的身上。涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機(jī)體，使磁通量csgia.net發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。生產(chǎn)產(chǎn)品過程中，可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中最為常見，也是最需要注意的一個(gè)點(diǎn)。

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時(shí)所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。介紹：測厚儀可以用來在線測量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號的形式輸出。

   當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí)，其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個(gè)值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。只有在進(jìn)行測量時(shí),操作者認(rèn)真操作,減少補(bǔ)償值得測算誤差,使補(bǔ)償值接近真實(shí)值,提高X射線測厚儀的測量精度。

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X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時(shí),X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量。尤其是在熱軋的過程中,測量的空間大X射線途經(jīng)的環(huán)境就比較大,當(dāng)溫度高時(shí),測量值減小,當(dāng)溫度低時(shí),測量值則增加。

第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度。比如,在軋制生產(chǎn)中,測量的鋼板上可能會附著著水、油或者氧化物,這都會對X射線測厚儀的測量值造成影響,出現(xiàn)誤差。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時(shí)的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。在線測厚儀優(yōu)勢：在線測厚儀，主要是應(yīng)用在連續(xù)測量多個(gè)檢測點(diǎn)，實(shí)時(shí)傳出數(shù)據(jù)到分析終端上來，方便快捷的一種工業(yè)級別測厚儀。