一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測厚儀相關(guān)注意事項：

　　儀器供電電壓必須與儀器品牌上的電壓一致.儀器三線插頭必須連接到已接地的插座上。

　　本儀器為精密儀器,配備的穩(wěn)壓電源.計算機應(yīng)配備不間斷電源(UPS)。

　　儀器應(yīng)特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

　　為避免短路,嚴禁儀器與液體直接接觸,如果液體進入儀器,請立即關(guān)閉儀器。

　　本儀器不能用于酸性環(huán)境和場合。

　　不要弄臟和刮擦調(diào)校標準片,否則會造成讀數(shù)錯誤。

　　不要用任何機械或化學(xué)的方法清除調(diào)校片上的臟物,可以用不起毛的布輕輕擦拭。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。參考標準塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進行元素量分析。但是由于影響熒光X射線的強度的因素較多，除待測元素的濃度外，儀器校正因子，待測元素X射線熒光強度的測定誤差，元素間吸收增加效應(yīng)校正，樣品的物理形態(tài)（如試樣的均勻性、厚度，表面結(jié)構(gòu)等）等都對定了分析結(jié)果產(chǎn)生影響。3．標準塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用校正標準塊的覆蓋層應(yīng)與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。由于受樣品的基體效應(yīng)等影響較大，因此，對于標注樣品要求很嚴格，只有標準樣品與實際樣品集體和表面狀態(tài)相似，才能保證定量結(jié)果的準確性。

江蘇一六儀器    X熒光光譜測厚儀  專業(yè)涂鍍層測厚

應(yīng)用領(lǐng)域：廣泛應(yīng)用于線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測、鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析、手表、精密儀表制造行業(yè)、

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測、衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、電鍍液的金屬陽離子檢測。

江蘇一六儀器   X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列 

技術(shù)參數(shù)

X射線裝置：W靶微聚焦加強型射線管

準直器φ 0.05 mm  ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 準直器任意選擇或者任意切換

近測距光斑擴散度：9%

測量距離：具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)

樣品觀察：1/2.5彩色CCD，變焦功能對焦方式高敏感鏡頭，手動對焦

放大倍數(shù)：光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍

隨機標準片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 

其它附件：聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱