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發(fā)布時(shí)間:2021-08-25 21:10  
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觸摸屏檢測公司選擇哪家?
經(jīng)過波峰焊后,焊點(diǎn)所有的參數(shù)會(huì)有很大的變化,這 主要是由于焊爐內(nèi)錫的老化導(dǎo)致焊盤反射特性從光亮到灰 暗,因此,在檢查時(shí)算法上必須要包含這些變化。在波峰焊 中,典型的缺陷是短路和焊珠。當(dāng)檢測到短路時(shí),假如印刷 的圖案或者無反射印刷這兩種情況的減少以及應(yīng)用阻焊層, 就可以消除這些誤報(bào)。如果基準(zhǔn)點(diǎn)沒有被阻焊膜蓋住而過波 峰焊,可能會(huì)導(dǎo)致一個(gè)圓形基準(zhǔn)點(diǎn)上錫成了一個(gè)半球,其內(nèi) 在的反射特性將會(huì)發(fā)生改變;應(yīng)用十字型作為基準(zhǔn)點(diǎn)或者用 阻焊層覆蓋基準(zhǔn)點(diǎn),可以防止這種情況的發(fā)生。彤光是一家專門進(jìn)行銷售觸摸屏檢測的公司,擁有成熟的技術(shù)和務(wù)實(shí)的管理經(jīng)驗(yàn),為客戶提供優(yōu)良的觸摸屏檢測和精致的服務(wù)。

觸摸屏檢測的速度很快
AOI技術(shù)是目前的優(yōu)解,提高產(chǎn)品檢測速度(夠限制速度的大概只有諸多物理極限),降低人的失誤因素導(dǎo)致的錯(cuò)誤率,提高可靠度以及穩(wěn)定度。以機(jī)械視覺檢測技術(shù)為基礎(chǔ),利用攝影機(jī)或其他類型的光電感測器取代人眼獲取待測物體的圖像或者信息進(jìn)行產(chǎn)品的檢查,利用電腦編程演算法取代人腦進(jìn)行影像處理、分析以及質(zhì)量檢定,利用機(jī)械取代人力進(jìn)行產(chǎn)品搬運(yùn),大幅提高檢測的速度與度。彤光作為專門的觸摸屏檢測銷售的公司,已經(jīng)和很多家企業(yè)和工廠進(jìn)行了觸摸屏檢測項(xiàng)目的合作,并獲得了眾多客戶的一致好評,您大可以放心聯(lián)系我們公司。

觸摸屏檢測的需求范圍比較廣
觸摸屏檢測的發(fā)展需求集成電路(IC)當(dāng)然是現(xiàn)今人類工業(yè)制造出來結(jié)構(gòu)精細(xì)的人造物之一,而除了以IC為主的半導(dǎo)體制造業(yè),AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測需求。①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測,典型應(yīng)用就是集成電路、芯片的制造、封裝等,既需要高精度又需要的大量檢測。②精密零件與制程的精密加工與檢測,典型應(yīng)用就是針對工具機(jī)、航空航天器等高精度機(jī)械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測,具有高精度、量測條件多變等特點(diǎn)。③生物醫(yī)學(xué)檢測應(yīng)用,典型應(yīng)用就是各式光學(xué)顯微鏡,結(jié)合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學(xué)信息判斷。

觸摸屏檢測的可測性怎么樣?
元件及焊點(diǎn)無不良傾向,但由于DFM設(shè)計(jì)時(shí)未考慮AOI的可測性,而造成AOI判定良與否有一定的難度,為保證檢出效果,將 引入一些誤判。如焊盤設(shè)計(jì)的過窄或過短,AOI進(jìn)行檢測時(shí)較難進(jìn)行很準(zhǔn)確的判定,此類情況所造成的誤判較難消除,除非改進(jìn) DFM或放棄此類元件的焊點(diǎn)不良檢測。彤光的科學(xué)技術(shù)水平實(shí)力還是比較強(qiáng)勁的,采用的觸摸屏檢測技術(shù)也是國內(nèi)外較高水平,擁有很多成功的案例,您要是不放心的話可以聯(lián)系我們,我們把案例發(fā)給您看一下,您再進(jìn)行抉擇。
