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發(fā)布時間:2021-07-01 02:47  
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維光學攝影測量系統,采用數字近景工業(yè)攝影測量技術(digital close-range industrialPhotogrammetry ),是便攜式光學三坐標系統,用于測量物體表面的標志點和特征的三維坐標。服務器的授權價格會比工作站高很多,如果有多臺服務器的話,掃描工具的價格會明顯上升。中文名XJTUDP三維光學攝影測量系統技 術采用數字近景工業(yè)攝影測量技術用 途測量物體表面的標志點技術特點可以測量出大型物體表面的編碼點目錄1 產品更名2 系統簡介3 系統組成4 應用范圍5 技術特點6 研發(fā)情況產品更名編輯XJTUDP三維光學攝影測量系統已更名為XTDP三維光學攝影測量系統 [1]
隨著計算機機器視覺這一新興學科的興起和發(fā)展,用非接觸的光電方法對曲面的三維形貌進行快速測量已成為大趨勢。3)[1]拍照式三維掃描儀采用一種結合結構光技術、相位測量技術、計算機視覺技術的復合三維非接觸式測量技術。這種非接觸式測量不僅避免了接觸測量中需要對測頭半徑加以補償所帶來的麻煩,而且可以實現對各類表面進行高速三維掃描。采用非接觸式三維掃描儀因其接觸性,對物體表面不會有損傷,同時相比接觸式的具有速度快,容易操作等特征,三維激光掃描儀可以達到5000-10000點/秒的速度,而三維藍光掃描儀則采用面光,速度更是達到幾秒鐘百萬個測量點,應用與實時掃描,工業(yè)檢測具有很好的優(yōu)勢。