測(cè)試速率高，可設(shè)定多通道瞬間多點(diǎn)采集，并通過(guò)電腦實(shí)時(shí)輸出。對(duì)于一些機(jī)械零件可以做到無(wú)損檢測(cè)，不破壞樣品。定期更換窗口膜，如測(cè)試窗口膜片受到污染或破損，應(yīng)立即更換，避免導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確或污染檢測(cè)器。分析速度快，適合做爐前分析或現(xiàn)場(chǎng)分析。測(cè)試范圍：可以同時(shí)快速測(cè)定金屬固體樣品中的C、Si、Mn、P、S、Cr、Ni、Mo、V、Ti、Cu、Al、W、Co、Nb、Mg、La、Ce、B、Pb、Sn、As、Sb、Bi等各種金屬、非金屬及氣體元素。

紅外碳硫分析儀原理：將試樣在高溫爐中通氧燃燒，生成并逸出CO2和SO2氣體，用此法實(shí)現(xiàn)碳硫元素與金屬元素及其化合物的分離，然后測(cè)定CO2和SO2的含量，再換算出試樣中的碳硫含量。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

斯派克的客戶在使用火花直讀光譜儀的過(guò)程中會(huì)遇到各種問(wèn)題，現(xiàn)小編綜合概況如下，希望對(duì)大家有所幫助：

清理火花臺(tái)：激發(fā)時(shí)金屬材料在火花臺(tái)內(nèi)產(chǎn)生黑色沉積物可導(dǎo)致電極與火花臺(tái)之間短路，所以火花臺(tái)應(yīng)定期清理。方法如下：松開(kāi)螺絲取下火花臺(tái)板及電極（包括墊片和電極上的玻璃套管），用吸塵器清理火花臺(tái)內(nèi)部。完畢后將火花臺(tái)復(fù)位。

判斷激發(fā)斑點(diǎn)

濃縮（凝聚）放電—激發(fā)點(diǎn)中心處侵蝕均勻并有金屬光澤，此為正常放電表明儀器工作正常；

擴(kuò)散放電—激發(fā)點(diǎn)呈白色，強(qiáng)度值低，樣品表面無(wú)侵蝕，為非正常放電，應(yīng)檢查激發(fā)過(guò)程，包括亞氣、試樣等。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

德國(guó)斯派克分析儀器公司，隸屬于美國(guó)阿美特克集團(tuán)，自1979年成立以來(lái)，它不僅繼承了德國(guó)光學(xué)儀器制造的傳統(tǒng)，而且憑借其獨(dú)特的先進(jìn)技術(shù)和穩(wěn)定可靠的質(zhì)量以及周到的售后服務(wù)，始終處于世界發(fā)射光譜技術(shù)的領(lǐng)地位。國(guó)產(chǎn)光譜分析技術(shù)近年發(fā)展快速，國(guó)產(chǎn)直讀光譜儀慢慢已經(jīng)能夠滿足國(guó)內(nèi)大部分市場(chǎng)，光譜技術(shù)在多年來(lái)漸漸發(fā)展成熟，很多廠家開(kāi)始考慮使用國(guó)產(chǎn)直讀光譜儀，學(xué)校科研也開(kāi)始陸續(xù)采購(gòu)國(guó)產(chǎn)直讀光譜儀。目前，已經(jīng)向全世界用戶提供了數(shù)萬(wàn)臺(tái)各類光譜儀，在國(guó)內(nèi)已有6000多臺(tái)SPECTRO的儀器在運(yùn)行使用。

計(jì)算機(jī)中的軟件數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)：對(duì)電腦接收到的各通道的光強(qiáng)數(shù)據(jù)，進(jìn)行各種算法運(yùn)算，得到穩(wěn)定，準(zhǔn)確的樣品含量。

-儀器的新型Spark Analyzer Pro軟件在操作界面簡(jiǎn)易性方面達(dá)到時(shí)代性的新水平。軟件中包含簡(jiǎn)單直接、不言自明的圖標(biāo)，以及熟悉和符合人體工學(xué)的操作方式，幾乎沒(méi)有任何學(xué)習(xí)曲線。這種分析方法過(guò)程長(zhǎng)、強(qiáng)度高、功能單一、穩(wěn)定性差、人為誤差大，已經(jīng)不能滿足時(shí)代的要求，也很難幫助企業(yè)達(dá)到以上四大目標(biāo)。僅授權(quán)用戶能訪問(wèn)方法開(kāi)發(fā)/知識(shí)庫(kù)模塊以進(jìn)行更復(fù)雜的任務(wù)。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

手持合金分析儀的應(yīng)用：合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域必不可少的快速成份鑒定工具。

手持合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定此元素的量。就是用國(guó)級(jí)光譜標(biāo)樣，在不同的光譜儀上連續(xù)打10個(gè)點(diǎn)，看它的極差或者RSD。如此一來(lái)，XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制