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發(fā)布時間:2020-12-10 05:52  
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維光學(xué)攝影測量系統(tǒng),采用數(shù)字近景工業(yè)攝影測量技術(shù)(digital close-range industrialPhotogrammetry ),是便攜式光學(xué)三坐標(biāo)系統(tǒng),用于測量物體表面的標(biāo)志點和特征的三維坐標(biāo)。中文名XJTUDP三維光學(xué)攝影測量系統(tǒng)技 術(shù)采用數(shù)字近景工業(yè)攝影測量技術(shù)用 途測量物體表面的標(biāo)志點技術(shù)特點可以測量出大型物體表面的編碼點目錄1 產(chǎn)品更名2 系統(tǒng)簡介3 系統(tǒng)組成4 應(yīng)用范圍5 技術(shù)特點6 研發(fā)情況產(chǎn)品更名編輯XJTUDP三維光學(xué)攝影測量系統(tǒng)已更名為XTDP三維光學(xué)攝影測量系統(tǒng) [1]
隨著計算機機器視覺這一新興學(xué)科的興起和發(fā)展,用非接觸的光電方法對曲面的三維形貌進行快速測量已成為大趨勢。這種非接觸式測量不僅避免了接觸測量中需要對測頭半徑加以補償所帶來的麻煩,而且可以實現(xiàn)對各類表面進行高速三維掃描。采用非接觸式三維掃描儀因其接觸性,對物體表面不會有損傷,同時相比接觸式的具有速度快,容易操作等特征,三維激光掃描儀可以達到5000-10000點/秒的速度,而三維藍光掃描儀則采用面光,速度更是達到幾秒鐘百萬個測量點,應(yīng)用與實時掃描,工業(yè)檢測具有很好的優(yōu)勢。