江蘇一六儀器    專業(yè)測(cè)厚儀   多道脈沖分析采集    先進(jìn)EFP算法

膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。

手持式的磁感應(yīng)原理是，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。

一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些？測(cè)厚儀在使用過程中，如果操作不規(guī)范，很容易導(dǎo)致測(cè)厚儀出現(xiàn)故障及問題，因此我們?cè)谑褂们岸夹枰攘私庀聹y(cè)厚儀的操作規(guī)范及一些常見問題的處理方法：

四.安全衛(wèi)生

1、源需由專人保管；

2、應(yīng)有妥善的保管場(chǎng)所（有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜，距生活區(qū)一米遠(yuǎn)）；

3、長(zhǎng)期不使用時(shí),應(yīng)放置保管場(chǎng)所；

4、衛(wèi)生

5、應(yīng)定期清理主機(jī)和探頭外表面，對(duì)源鉛罐上表面也要定期清理。

一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

儀器規(guī)格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

   樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5V

    zui da功率 ：330W

   環(huán)境溫度：15℃-30℃

   環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些

   我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí)，如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來了解下先：

 一、操作注意事項(xiàng)

  1. 如果在測(cè)量中測(cè)頭放置不穩(wěn)，會(huì)引起測(cè)量值與實(shí)際值偏差較大；

  2.  如果已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測(cè)量值將保持在一定的誤差 范圍內(nèi)；

  3. 儀器的任何一個(gè)測(cè)量值都是五次看不見的測(cè)量平均值；

  4.  為使測(cè)量更加準(zhǔn)確，可在一個(gè)點(diǎn)多次測(cè)量，并計(jì)算其平均值作為 終的測(cè)量結(jié)果；

  5.  顯示測(cè)量結(jié)果后，一定要提起測(cè)頭至距離工件10mm以上，才可以 進(jìn)行下次測(cè)量。

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X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些

    我們要保證生產(chǎn)的產(chǎn)品厚度上是否可以，那么X射線測(cè)厚儀測(cè)量的精度是否準(zhǔn)確就非常重要了，如果X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度發(fā)生了偏差，那么生產(chǎn)出來的產(chǎn)品就不會(huì)！一六儀器------鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x測(cè)厚儀有：X射線測(cè)厚儀、γ射線測(cè)厚儀、激光測(cè)厚儀。由此可知測(cè)厚儀的測(cè)量精度有多么重要，因此，這次在這與大家分享下X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些:

首先,是X射線的高壓控制箱會(huì)對(duì)測(cè)量的精度造成一定的影響；

第二,在X射線測(cè)厚儀通過施加高壓釋放出X射線時(shí),X射線途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會(huì)影響X射線對(duì)被測(cè)物體的測(cè)量；

第三,在測(cè)量過程中,被測(cè)物體上,可能會(huì)有附著物,也會(huì)影響測(cè)量的精度；

第四,在生產(chǎn)過程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度造成影響。