顯微鏡簡介

北京老上光儀器有限公司——專業(yè)顯微鏡供應商，我們?yōu)槟鷰硪韵滦畔ⅰ?

顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志。 主要用于放大微小物體成為人的肉眼所能看到的儀器。顯微鏡分光學顯微鏡和電子顯微鏡:光學顯微鏡是在1590年由荷蘭的詹森父子所首創(chuàng)。現在的光學顯微鏡可把物體放大1600倍，分辨小的極限達波長的1/2，國內顯微鏡機械筒長度一般是160毫米。反光鏡有平、凹兩面，光源強時用平面，較暗時用凹面，需要強光時，將聚光器提高，光圈放大。其中對顯微鏡研制，微生物學有巨大貢獻的人為列文虎克，荷蘭籍。

顯微鏡如何對光？

(1)將低倍鏡轉至鏡筒下方與鏡筒成一直線。

(2)撥動反光鏡，調節(jié)至視野亮無陰影。反光鏡有平、凹兩面，光源強時用平面，較暗時用凹面，需要強光時，將聚光器提高，光圈放大;需要弱光時，將聚光器降低，或光圈適當縮小。

(3)將待觀察的標本置載物臺上，轉動粗調節(jié)器使鏡筒下降至接物鏡接近標本。于轉動粗調節(jié)器的同時，須俯身在鏡旁仔細觀察接物鏡與標本之間的距離。

(4)左眼于接目鏡觀察，同時左手轉動粗調節(jié)，使鏡筒徐徐上升以調節(jié)焦距，使視野內的物象看到上時即停，再調微調節(jié)器，至標本清晰為止。

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顯微鏡的檢定方法

把標準刻線尺放置在硬度計(或顯微鏡)的工作臺上，檢查時先調好焦距，使在目鏡視野內或投影屏上能清晰地看到標準刻線尺的刻線，并調整到與目鏡內的刻線重合，然后將讀數顯微鏡的刻線與標準刻線尺的刻線進行比較，應至少在整個測量范圍的5個間隔段進行測量，各間隔段比較3次，取3次比較結果的平均值，其相對誤差W按下式進行計算:

W=(Li-L)/L×100%

式中:W--相對誤差(mm);Li--讀數顯微鏡的比較段所測出的長度(mm)，(i=1~5);L--標準刻線尺比較段的實際長度(mm)。

讀數顯微鏡的刻度按上述方法逐段進行比較，其誤差應不大于±0.5%。

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