近兩年IGBT測試儀持續(xù)火爆，新能源汽車，軌道交通，風(fēng)力發(fā)電等等都需要大量的IGBT模塊，所以我們?nèi)A科智源推出了大功率IGBT測試儀，可以測試1200A，5000V以內(nèi)的IGBT模塊，基本可以涵蓋現(xiàn)階段的IGBT模塊的測試了，我們IGBT測試儀還可以在線檢測模塊的電性能參數(shù)，對一些檢修，維護(hù)領(lǐng)域的工作有比較好的幫助，目前國內(nèi)我們?nèi)A科智源不光是IGBT靜態(tài)測試儀，包括動態(tài)測試儀，與國際品牌的設(shè)備也可以放在一起競爭了，而且我們不怕競爭，這對我們是一種促進(jìn)。當(dāng)功率元件老化時，元件的內(nèi)阻在導(dǎo)通時必定會加大，因而使溫度升高，并使其效能降低。

1.1 設(shè)備數(shù)量 1套 * 1.2 設(shè)備功能 測試功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù) * 1.3 設(shè)備組成 設(shè)備包含硬件模塊和軟件模塊兩大部分 * 1.4 硬件模塊 設(shè)備硬件部分應(yīng)包括測試主機(jī)、測試線纜，測試夾具、控制電腦等 * 1.5 軟件模塊 設(shè)備軟件部分應(yīng)包括： 1.操作系統(tǒng)、備份、保存、遠(yuǎn)程控制編輯、上傳、故障自檢報(bào)警等基本功能； 2. 圖形化操作界面；由于科技進(jìn)步，電力電子裝置對輕薄短小及之要求,帶動MOSFET及IGBT的發(fā)展，尤其應(yīng)用于電氣設(shè)備、光電、航天、鐵路、電力轉(zhuǎn)換。中/英文操作系統(tǒng) 3.輸出EXCEL、wor測試報(bào)告 *4.切換大小功率測試模塊，達(dá)到相應(yīng)測試精度 *5.可生成器件的I-V特性曲線，曲線上測試點(diǎn)數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到EXCEL表格； *6.同一測試條件的器件的測試曲線可以在軟件內(nèi)進(jìn)行對比，新測曲線可以與原測曲線進(jìn)行對比； 2、設(shè)備尺寸 2.1 設(shè)備總體長度 ≤ 700 mm 2.2 設(shè)備總體寬度 ≤600mm 2.3 設(shè)備總體高度 ≤500mm

三、華科智源IGBT測試儀系統(tǒng)特征： A：測量多種IGBT、MOS管 B：脈沖電流1200A，電壓5KV，測試范圍廣；IGBT測試裝置技術(shù)要求 （1）設(shè)備功能 IGBT模塊檢測裝置是用于IGBT的靜態(tài)參數(shù)測試。 C：脈沖寬度 50uS~300uS D：Vce測量精度2mV E：Vce測量范圍>10V F：電腦圖形顯示界面 G：智能保護(hù)被測量器件 H：上位機(jī)攜帶數(shù)據(jù)庫功能 I：MOS IGBT內(nèi)部二極管壓降 J : 一次測試IGBT全部靜態(tài)參數(shù) K: 生成測試曲線（IV曲線直觀看到IGBT特性，可以做失效分析以及故障定位） L:可以進(jìn)行不同曲線的對比，觀測同一批次產(chǎn)品的曲線狀態(tài)，或者不同廠家同一規(guī)格參數(shù)的曲線對比；

大功率半導(dǎo)體器件為何有老化的問題？

任何產(chǎn)品都有設(shè)計(jì)使用壽命，同一種產(chǎn)品不同的使用環(huán)境和是否得到相應(yīng)的維護(hù)，延長產(chǎn)品使用壽命和設(shè)備良好運(yùn)行具有極為重要。賣方對技術(shù)規(guī)范保證數(shù)據(jù)的有效性及交貨保質(zhì)期等應(yīng)由雙方協(xié)商確定并簽署在合同中。功率元件由于經(jīng)常有大電流往復(fù)的沖擊，對半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)均具有一定的耗損性及破壞性，若其工作狀況又經(jīng)常在其安全工作區(qū)的邊緣，更會加速元件的老化程度，故元件老化，就如人的老化一樣是不可避免的問題。