江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測厚儀

性能優(yōu)勢：

   下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

   jie shou 器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。

   EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

統(tǒng)計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、max值、min值、數(shù)據(jù)變動范圍、CP、數(shù)據(jù)編號、CPK、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能

-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師-任選軟件統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測材料和合金元素分析檢測。

   江蘇一六儀器有限公司  專業(yè)鍍層測厚檢測   歡迎來電詳詢！ 

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較，被測元素的特征X射線熒光強度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關，而且與厚度直接相關。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法，具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速，方便，測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關企業(yè)作為過程控制和檢測使用。005umX射線熒光光譜測厚儀X射線的產(chǎn)生X射線波長略大于0。是目前應用為廣泛，具有速度快、無損化以及可實現(xiàn)多鍍層同時分析等特點。

江蘇一六儀器    X射線熒光光譜測厚儀

產(chǎn)品配置

X光金屬鍍層測厚儀標準配置為：X射線管，正比計數(shù)器﹨半導體探測器，高清攝像頭，高度激光，信號檢測電子電路。

性能指標

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

X射線管：管電壓50KV，管電流1mA

可測元素：CI～U

檢測器：正比計數(shù)管

樣品觀察：CCD攝像頭

測定軟件：薄膜FP法、檢量線法

Z軸程控移動高度 20mm