提升ict測(cè)試通過率的方法

1、針床要做好，確保扎準(zhǔn)、扎透。有事有助焊劑會(huì)影響測(cè)試效果，就需要清洗后再測(cè)，不過我們要選用檢測(cè)功能強(qiáng)，性能穩(wěn)定的ICT。

2、治具在使用前可以用刷子清潔探針，發(fā)現(xiàn)不好的、變形、臟的立即更換，有時(shí)間經(jīng)常做保養(yǎng)。

3、如果是經(jīng)常做的型號(hào)，在生產(chǎn)前把常報(bào)錯(cuò)的那幾個(gè)原件電容，電阻可以相應(yīng)的調(diào)試(剛過波峰焊板子燙等)。

4、編程人員要使用合理的檢測(cè)方法來測(cè)，并不是接近標(biāo)稱值的結(jié)果好，要與實(shí)際并聯(lián)結(jié)果接近才是正確的。

單片機(jī)控制功能測(cè)試

制做夾鎖治具或氣動(dòng)治具，然后把探針引出來。把輸入，輸出，電源接到單片機(jī)電路，讓單片機(jī)自動(dòng)跑測(cè)試程序模擬輸入，且量測(cè)輸出的正確與否。

電腦控制測(cè)試系統(tǒng)

使用氣動(dòng)或在產(chǎn)線上的自動(dòng)化測(cè)試機(jī)構(gòu)，通過電腦控制來測(cè)試產(chǎn)品的品質(zhì)。

特點(diǎn)：電腦控制測(cè)試治具價(jià)格較貴，測(cè)試速度快，不需要人為介入，全自動(dòng)測(cè)試。通用性好，可以通用相類似產(chǎn)品。

ICT測(cè)試治具要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度高，功能越來越強(qiáng)，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測(cè)試點(diǎn)，使制造費(fèi)用變高；同時(shí)為開發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫變得困難，開發(fā)周期延長(zhǎng)。為此，聯(lián)合測(cè)試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來控制和檢測(cè)器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來完成測(cè)試任務(wù)。