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發(fā)布時(shí)間:2020-11-12 07:10  

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檢測(cè)方法/電子元器件

電阻器

1 固定電阻器的檢測(cè)。

A 將兩表筆(不分正負(fù))分別與電阻的兩端引腳相接即可測(cè)出實(shí)際電阻值。為了提高測(cè)量精度,應(yīng)根據(jù)被測(cè)電阻標(biāo)稱值的大小來(lái)選擇量程。由于歐姆擋刻度的非線性關(guān)系,它的中間一段分度較為精細(xì),因此應(yīng)使指針指示值盡可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范圍內(nèi),以使測(cè)量更準(zhǔn)確。根據(jù)電阻誤差等級(jí)不同。BGA返修使用HT996進(jìn)行BGA的返修步驟:1:拆卸BGA把用烙鐵將PCB焊盤殘留的焊錫清理干凈、平整,可采用拆焊編織帶和扁鏟形烙鐵頭進(jìn)行清理,操作時(shí)注意不要損壞焊盤和阻焊膜。讀數(shù)與標(biāo)稱阻值之間分別允許有±5%、±10%或±20%的誤差。如不相符,超出誤差范圍,則說(shuō)明該電阻值變值了。

B 注意:測(cè)試時(shí),特別是在測(cè)幾十kΩ以上阻值的電阻時(shí),手不要觸及表筆和電阻的導(dǎo)電部分;由于復(fù)合三極管的放大作用,把被測(cè)電容的充放電過(guò)程予以放大,使萬(wàn)用表指針擺幅度加大,從而便于觀察。被檢測(cè)的電阻從電路中焊下來(lái),至少要焊開一個(gè)頭,以免電路中的其他元件對(duì)測(cè)試產(chǎn)生影響,造成測(cè)量誤差;色環(huán)電阻的阻值雖然能以色環(huán)標(biāo)志來(lái)確定,但在使用時(shí)1好還是用萬(wàn)用表測(cè)試一下其實(shí)際阻值。



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CBGA 封裝的優(yōu)點(diǎn)如下:1、氣密性好,抗?jié)駳庑阅芨?,因而封裝組件的長(zhǎng)期可靠性高;2、與 PBGA 器件相比,電絕緣特性更好;3、與 PBGA 器件相比,封裝密度更高;4、散熱性能優(yōu)于 PBGA 結(jié)構(gòu)。


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僅有橫截面X射線檢測(cè)技術(shù),例如:X射線分層法,能夠克服上述條件的制約。橫截面X射線檢測(cè)技術(shù)具有能夠查出隱藏的焊接點(diǎn)缺陷的能力,通過(guò)對(duì)焊盤層焊接點(diǎn)的聚焦,能夠揭示出BGA焊接點(diǎn)的連接情況。在不可拆(non-collapsible)BGA器件中,由于前置焊球的緣故,也會(huì)出現(xiàn)“陰影”現(xiàn)象。在同樣的情況下,采用X射線設(shè)各所獲得的圖像中,實(shí)際情況可能被隱藏掉了,從而不能夠反映出真實(shí)的情況。


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焊料的數(shù)量以及它在連接點(diǎn)的分布情況,通過(guò)在BGA連接點(diǎn)的二個(gè)或更多個(gè)不同的高度 (例如:在印制電路板焊盤接觸面,在元器件接觸面,或者在元器件和印刷電路板之間的一半高度)所產(chǎn)生的橫截面圖像或者“水平切片”予以直接測(cè)量,再結(jié)合同類BGA連接點(diǎn)的多次切片測(cè)量,能夠有效地提供三維測(cè)試,可以在對(duì)BGA連接點(diǎn)不進(jìn)行物理橫截面*作的情況下進(jìn)行檢測(cè)。BGA的全稱BallGridArray(焊球陣列封裝),它是在封裝體基板的底部制作陣列焊球作為電路的I/O端與印刷線路板(PCB)互接。