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發(fā)布時(shí)間:2021-07-26 18:38  
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ICT在線測(cè)試儀它指的是對(duì)測(cè)試目標(biāo)板(UUT:Unit Under Test)提供模擬的運(yùn)行環(huán)境(激勵(lì)和負(fù)載),使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài),從而獲取到各個(gè)狀態(tài)的參數(shù)來(lái)驗(yàn)證UUT的功能好壞的測(cè)試方法。簡(jiǎn)單地說(shuō),就是對(duì)UUT加載合適的激勵(lì),測(cè)量輸出端響應(yīng)是否合乎要求,一般專指PCBA的功能測(cè)試。ICT在線測(cè)試儀一般專指PCBA上電后的測(cè)試,主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量、壓力測(cè)量、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測(cè)試項(xiàng)目。
ICT測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)
1、降低損耗,節(jié)約成本,ICT在線測(cè)試儀是以小電流、小電壓進(jìn)行小信號(hào)靜態(tài)檢測(cè),能夠有效的防止電路板因有短路等故障通電后燒壞器件或電路板,將生產(chǎn)損耗大大降低,節(jié)約成本。尤其是將電路板故障發(fā)生在生產(chǎn)過(guò)程中,成本zui低約是發(fā)現(xiàn)在用戶端成本的百分之一。
2、使用先進(jìn)的(ICT)是趨勢(shì)所趨,現(xiàn)代化的生產(chǎn)趨勢(shì)是以適當(dāng)?shù)脑O(shè)備取代人,以節(jié)約成本,提高生產(chǎn)率,ICT在電路板的制造業(yè)已普遍使用。
ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定,與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后,可互不影響。對(duì)邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計(jì)要安裝可測(cè)性要求。
EA—2在線測(cè)試設(shè)備為上下兩層可同時(shí)在線測(cè)試設(shè)備,主要由左右升降部分與上下測(cè)試部分而成。當(dāng)需要提高生產(chǎn)效率單層測(cè)試時(shí)間需要很長(zhǎng)時(shí),可使用雙層測(cè)試來(lái)實(shí)現(xiàn),可提高生產(chǎn)率,降低等待測(cè)試時(shí)間。