（3）設(shè)備的功能特點(diǎn) 1）各種數(shù)據(jù)以圖形方式在檢測(cè)時(shí)實(shí)時(shí)顯示與記錄。數(shù)據(jù)采集后，后臺(tái)軟件自動(dòng)及時(shí)繪出相應(yīng)圖表，以方便現(xiàn)場(chǎng)判斷使用。001～10V 集電極電流ICE： 0-1600A 集電極電壓VCEs： 0。 2）具有大容量的數(shù)據(jù)采集能力。測(cè)試數(shù)據(jù)直接進(jìn)入控制電腦，這樣使得采集數(shù)據(jù)的容量為無限大。 3）具有內(nèi)置的軟件，幫助提供自動(dòng)判斷。 4）具有方便的歷史數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及檢索功能。

14）工控機(jī)及操作系統(tǒng)

用于控制及數(shù)據(jù)處理，采用定制化系統(tǒng)，主要技術(shù)參數(shù)要求如下：

?機(jī)箱：4Μ 15槽上架式機(jī)箱；

?支持ATX母板；

?CPΜ：INTEL雙核；

?主板：研華SIMB；

?硬盤：1TB；內(nèi)存4G；

?3個(gè)5.25”和1個(gè)3.5”外部驅(qū)動(dòng)器；

?集成VGA顯示接口、4個(gè)PCI接口、6個(gè)串口、6個(gè)ΜSB接口等。

?西門子PLC邏輯控制

15）數(shù)據(jù)采集與處理單元

用于數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理，主要技術(shù)參數(shù)要求如下：

?示波器;高壓探頭：滿足表格4-11動(dòng)態(tài)參數(shù)、短路電流、安全工作區(qū)測(cè)試需求

?電流探頭：滿足表格4-11動(dòng)態(tài)參數(shù)、短路電流、安全工作區(qū)測(cè)試需求

?狀態(tài)監(jiān)測(cè)：NI數(shù)據(jù)采集卡

?上位機(jī)：基于Labview人機(jī)界面

?數(shù)據(jù)提?。簻y(cè)試數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)為Excel文件及其他用戶需要的任何數(shù)據(jù)格式，特別是動(dòng)態(tài)測(cè)試波形可存儲(chǔ)為數(shù)據(jù)格式；所檢測(cè)數(shù)據(jù)可傳遞至上位機(jī)處理；從檢測(cè)部分傳輸?shù)臄?shù)據(jù)經(jīng)上位機(jī)處理后可自動(dòng)列表顯示相應(yīng)測(cè)試數(shù)據(jù)；?數(shù)據(jù)處理和狀態(tài)檢測(cè)部分內(nèi)容可擴(kuò)展

2.2反向恢復(fù)技術(shù)條件 測(cè)試參數(shù)： 1、Irr(反向恢復(fù)電流)：50～1000A 50～200A±3%±1A 200～1000A±3%±2A 2、Qrr (反向恢復(fù)電荷)：1～1000uC 1～50uC±5%±0.1 uC 50～200uC±5%±1 uC 200～1000uC±5%±2 uC 3、trr(反向恢復(fù)時(shí)間)：20～2000ns 20～100±5%±1ns 100～500±5%±2ns 500～2000±3%±5ns 4、Erec(反向關(guān)斷能量損失)：0.5～1000mJ 0.5～1mJ±5%±0.01mJ 1～50mJ±5%±0.1mJ 50～200mJ±5%±1mJ 200～1000mJ±5%±2mJ 測(cè)試條件： 1、正向電流IFM：50～1000A 50～200A±3%±1A 200～1000A±3%±2A 2、-di/dt測(cè)量范圍：200～10000A/us 3、反向關(guān)斷峰值電壓VRRpk：200～1000V±3%±2V 4、dv/dt測(cè)量范圍：100～10000V/us

4驗(yàn)收和測(cè)試 1)驗(yàn)收由雙方共同參加，按照技術(shù)規(guī)范書的技術(shù)要求逐項(xiàng)完成所有測(cè)試項(xiàng)，檢驗(yàn)單元是否功能齊全、模塊完整、正常運(yùn)行。由賣方現(xiàn)場(chǎng)安裝、測(cè)試，買方確認(rèn)測(cè)試合格通過后完成驗(yàn)收。 2)賣方負(fù)責(zé)組織和實(shí)施整個(gè)單元的組裝、調(diào)試、系統(tǒng)集成工作；負(fù)責(zé)免費(fèi)培訓(xùn)并提供培訓(xùn)教材。半導(dǎo)體元器件檢測(cè)中心——應(yīng)用本公司測(cè)試系統(tǒng)可擴(kuò)大檢測(cè)中心的檢測(cè)范圍、提高檢測(cè)效率，提升檢測(cè)水平，增加經(jīng)濟(jì)效益。培訓(xùn)后，應(yīng)能達(dá)到用戶能基本完全獨(dú)立熟練操作單元進(jìn)行功率半導(dǎo)體性能測(cè)試，并能解決實(shí)際工程問題。