火花直讀光譜儀屬于高精密儀器，在實際操作中應(yīng)該注意幾個要點，以免誤操作不當(dāng)給分析結(jié)果帶來誤差，甚至不能測試結(jié)果，更嚴重者會損放壞火花直讀光譜儀，或影響壽命。

試料激發(fā)和計算機操作①、為了安全起見，計算機的操作和激發(fā)試樣，必須由一個人操作到底。②、試樣放好后，才能使用計算機的操作指令，激發(fā)試樣。③、在激發(fā)崗位操作時要注意三點。一要聽聲音，試料放置不好，有漏氣時，激發(fā)聲音則不正常。根據(jù)儀器結(jié)構(gòu)的不同，有可分為同時型多道直讀光譜儀和掃描型單道直讀光譜儀。第二點檢查激發(fā)放電斑點，凝聚放電是好的，擴散放電(白點)是不好的。第三點要檢查激發(fā)點的位置上是否有微小裂紋，氣孔和砂眼，激發(fā)點有無重疊等，提供給數(shù)據(jù)處理工作時做重要的參考。④、每個試樣，必須激發(fā)三次以上。⑤、計算機操作時，應(yīng)記下爐號，次數(shù)和鋼種，并要記錄操作者的姓名。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

在工業(yè)生產(chǎn)中，由于光電直讀光譜儀分析費用節(jié)省，分析速度快，分析結(jié)果可靠，已被廣泛采用。光電直讀光譜儀由光源部分、聚光部分、分光部分和測光部分所組成。光源部分使試樣激發(fā)發(fā)光；聚光部分是把發(fā)出的光聚集起來導(dǎo)入分光部分；分光部分是將光色散成各元素的譜線；測光部分是用光電法測量各元素的譜線強度，并指示、記錄下來，或是將其測光讀數(shù)換算成為元素質(zhì)量分數(shù)表示出來。在驗證分析試樣的時間，也要激發(fā)接近含量的標(biāo)鋼，以便證明儀器是在正常的工作狀態(tài)。目前無論國內(nèi)還是國外的光電直讀光譜儀，基本可按照功能分為4個模塊，即：

1、激發(fā)系統(tǒng)：任務(wù)是通過各種方式使固態(tài)樣品充分原子化，并放出各元素的發(fā)射光譜光。

2、光學(xué)系統(tǒng)：對激發(fā)系統(tǒng)產(chǎn)生出的復(fù)雜光信號進行處理（整理、分離、篩選）。

3、測控系統(tǒng)：測量代表各元素的特征譜線強度，通過各種手段，將譜線的光強信號轉(zhuǎn)化為電腦能夠識別的數(shù)字電信號，控制整個儀器正常運作。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

直讀光譜儀可用于鑄造、鍛造、機械配件、裝備制造、質(zhì)檢、高校教學(xué)培訓(xùn)等領(lǐng)域。

在直讀光譜儀分析過程中，采用高穩(wěn)定的激發(fā)光源,激發(fā)頻率在150—500Hz之間變化,分析不同的樣品,可選擇不同的激發(fā)參數(shù),可達到佳的分析效果。

直讀光譜儀中有關(guān)第三元素影響的問題

譜線干擾:由于試樣組分復(fù)雜，所選元素的分析線直接受試樣中其它組分發(fā)射譜線的影響，這種影響又稱為光譜干擾。基體。簡單的說，樣品中除了少量存在的待測物之外，還有大量的其他物質(zhì)，這就是基體。基體效應(yīng)。試料激發(fā)和計算機操作①、為了安全起見，計算機的操作和激發(fā)試樣，必須由一個人操作到底。實驗證明，當(dāng)被測元素的濃度一定時，分析元素譜線的絕強度及相對強度值不僅決定于蒸發(fā)、激發(fā)等攝譜條件，而且與試樣總組成有關(guān)。試樣總組成對譜線強度的影響稱為第三元素的影響。第三元素是指除了內(nèi)標(biāo)和分析元素以外而存在于試樣中的元素，這種影響有時稱為基體效應(yīng)。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

定性分析。就是要確定某試樣中有沒有定的元素或確定某試樣中究竟有哪些元素(全定性)

定量分析。就是要根據(jù)被測試樣中待測元素的譜線強度來確定該元素的濃度。光譜定量分析，主要是根據(jù)樣品中分析元素的譜線強度來確定元素的濃度。光譜起源于17世紀,1666年物理學(xué)家牛頓一次進行了光的色散實驗。般當(dāng)試樣中某一元素的含量不太高時，該元素發(fā)射的光譜譜線強度是和它的含量成正比。這個關(guān)系成為光譜定量分析的基礎(chǔ)，并使光譜定量分析成為非常方便的方法。凡是光譜定性分析能測到的元素，一般都可以做定量分析，元素周期表上約七十個元素，可以用光譜方法，較容易定性分析。

直讀光譜儀在分析過程中受到這些因素的影響，有些因素在分析前可以考慮到，做好分析制備的工作，免于第三元素的干擾。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制