江蘇一六儀器    專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀   多道脈沖分析采集    先進(jìn)EFP算法

膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。

手持式的磁感應(yīng)原理是，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。

臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀，是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱(chēng)為二次熒光，,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。

一六儀器  X-RAY測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家,歡迎來(lái)電咨詢(xún)!

測(cè)厚儀,多薄多復(fù)雜組合的鍍層分析,一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器都能滿(mǎn)足您的使用!

一六儀器提供的測(cè)厚儀可測(cè)試面積0.002mm?和80mm深槽的樣品

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。

  測(cè)量注意事項(xiàng)：⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠  一六儀器一liu品質(zhì)  可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,歡迎來(lái)電咨詢(xún)!

性能優(yōu)勢(shì)：

   下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

   無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

   率的jie shou qi：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

   EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

激光測(cè)厚儀的技術(shù)指標(biāo)介紹

   激光測(cè)厚儀一般是由兩個(gè)激光位移傳感器上下對(duì)射的方式組成的，上下的兩個(gè)傳感器分別測(cè)量被測(cè)體上表面的位置和下表面的位置，通過(guò)計(jì)算得到被測(cè)體的厚度。激光測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn)在于它采用的是非接觸的測(cè)量，相對(duì)接觸式測(cè)厚儀更精準(zhǔn)，不會(huì)因?yàn)槟p而損失精度。相對(duì)超聲波測(cè)厚儀精度更高。相對(duì)X射線測(cè)厚儀沒(méi)有輻射污染。一六儀器、一liu品質(zhì)，各種涂鍍層、膜層的檢測(cè)難題歡迎來(lái)電咨詢(xún)。

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常見(jiàn)幾種測(cè)厚儀的工作原理是什么：

2、測(cè)厚儀原理--X射線測(cè)厚儀

     X射線測(cè)厚儀：此類(lèi)測(cè)厚儀利用的是當(dāng)X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線強(qiáng)度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。

     3、測(cè)厚儀原理--超聲波測(cè)厚儀

     超聲波測(cè)厚儀：這種測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射的原理來(lái)對(duì)物體厚度進(jìn)行測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖會(huì)發(fā)生反射而返回探頭，通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間，來(lái)計(jì)算被測(cè)材料的厚度。