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發(fā)布時間:2021-05-11 04:34  
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基于用戶的分析需求,儀器可以定制成十種標準基體的任意組合。
CCD光學系統(tǒng)可以自由選擇120-800nm范圍內(nèi)的任意譜線用于分析線或參比線。光電管光學系統(tǒng)可設(shè)置108個光電倍增管。每個光電管通道都有是一個微積分器,具有TRS(時間分解光譜技術(shù))分析痕量元素和SSE(單火花評估技術(shù))分析元素相態(tài)。事實上,所有分析要求都可以在M12中無折衷地實現(xiàn)??茖W儀器的進展一定程度上代表著科學前沿的方向,也是推動科技創(chuàng)新的重要支撐。
斯派克火花光譜儀的精致設(shè)計使用日常維護和校工作量降到,儀器操作變得非常簡單。對于儀器參數(shù)設(shè)置,數(shù)據(jù)管理,聯(lián)網(wǎng)傳輸,打印和材料牌號判定等功能,軟件設(shè)計了簡單直觀,易懂的操作界面。SQL數(shù)據(jù)庫格式是數(shù)據(jù)管理軟件的基礎(chǔ)。
配備現(xiàn)代光譜技術(shù)和高質(zhì)量的元器件,SPECTROLAB設(shè)計應用于解決各種分析要求。憑借其杰出的性能表現(xiàn)和靈活性,適用于過程控制,質(zhì)量監(jiān)控,材料牌號判定,材料研究和開發(fā),以及金屬冶煉,加工和回收工業(yè)中的各種分析應用。

直讀光譜儀的校準描跡是對光譜儀的光學系統(tǒng)進行的校準。這是校準的首要前提。
在此條件下可進行如下校準:標準化即再校準工作曲線,然后可用到的校準方法有:(1)、修改持久工作曲線法(修改標準化參數(shù));(2)、控樣法;(3)、類型標準化法。
透鏡污染透鏡污染引發(fā)的光強值下降。軟件中包含簡單直接、不言自明的圖標,以及熟悉和符合人體工學的操作方式,幾乎沒有任何學習曲線。透鏡安裝在光譜儀的分光室和火花室之間,起隔離分光室和火花室及匯聚譜線的作用。激發(fā)一定數(shù)量的試樣以后,火花室內(nèi)激發(fā)產(chǎn)生的灰燼等污染物及分光室內(nèi)真空泵長時間運轉(zhuǎn)蒸騰產(chǎn)生的油污分子會污染透鏡的兩個表面,降低透鏡的透光性,引發(fā)光強值下降。因此,每隔規(guī)定的時間或分析了一定數(shù)量的試樣后,要將透鏡取下,浸泡在無水乙醇或其他清洗液中數(shù)十分鐘再用干凈的綢布擦拭干凈后裝上。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制
控制樣品的使用①、分析爐中樣品應盡量采用同鋼種,接近含量的控制標準樣品。DSOI技術(shù)將傳統(tǒng)垂直觀測系統(tǒng)的靈敏度提高了數(shù)倍,避免了垂直雙觀測結(jié)構(gòu)的復雜缺點和降低了用戶使用成本。②、一個控制樣品很難滿足多元素分析的要求,盡量做到分析樣品的含量與控制標鋼的成分接近。③、對特殊情況,個別元素接近邊緣規(guī)格或超過標準規(guī)定時,應選擇適當含量的標鋼去進行控制。④、應隨時聯(lián)系電爐,取好光譜內(nèi)控制標鋼,爐中快速分析,應盡量采取澆注的控制標鋼為好。⑤、對成品試樣,要注意樣品的狀態(tài)(指淬火,退火狀態(tài))選擇適當?shù)目刂茦虽摗?次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制