晶間腐蝕檢驗(yàn)的離線檢測(cè)方法

、超聲檢測(cè)。超聲測(cè)厚已經(jīng)是一門很成熟的工業(yè)無(wú)損探測(cè)技術(shù)，通過(guò)對(duì)超聲波反射變化的分析，檢測(cè)金屬厚度中是否存在裂紋、空洞等，因此超聲波被視為金屬厚度或裂紋的檢查工具。但須注意的是海水中聲速與大氣不同，要選取正確的參數(shù)才能使用。

　　第二、渦流法。在交流饋電線圈電場(chǎng)內(nèi)，放入金屬物塊，其表面會(huì)產(chǎn)生渦流。而如果金屬表面產(chǎn)生腐蝕裂紋或蝕坑處，那么渦流將會(huì)受到干擾，使激勵(lì)線圈反電勢(shì)改變，或在次級(jí)線圈內(nèi)產(chǎn)生變化。而檢波、放大可將這種變化轉(zhuǎn)換為視覺(jué)顯示。實(shí)際生活中，我們將線圈做成探頭，在被測(cè)表面上移動(dòng)進(jìn)行測(cè)定?？梢詸z測(cè)出材料的表面缺陷和腐蝕情況。

　　第三、漏磁法。根據(jù)鋼腐蝕缺陷處的磁導(dǎo)率遠(yuǎn)小于鋼管的磁導(dǎo)率的原理。在外加磁場(chǎng)后，無(wú)缺陷的地方磁力線分布均勻，而有缺陷的地方，磁力線發(fā)生彎曲，并有一部分磁力線泄露出鋼表面，這個(gè)現(xiàn)象可以通過(guò)監(jiān)測(cè)查看腐蝕狀況。常用于檢測(cè)表面裂紋和蝕孔，如果作為運(yùn)行中設(shè)備的內(nèi)腐蝕檢測(cè)手段時(shí)，腐蝕缺陷要足夠深。

掃描電子顯微鏡主要功能

掃描電子顯微鏡可以提供直觀的尺規(guī)量測(cè)功能。在微米～奈米的尺度下直接對(duì)樣品影像進(jìn)行尺規(guī)量測(cè)。搭配適當(dāng)尺規(guī)量測(cè)標(biāo)準(zhǔn)件，可作直接尺規(guī)量測(cè)。

可偵測(cè)的二次電子產(chǎn)生於物體表面的5~10奈米范圍內(nèi)，因此二次電子影像具有良好的空間分辨率，掃描電子顯微鏡二次電子影像可以輕松達(dá)到奈米級(jí)別分辨率，在無(wú)干擾的狀況下觀察樣品影像。

可偵測(cè)的背散電子產(chǎn)生於樣品表面50~200奈米范圍內(nèi)，雖然分辨率不如二次電子像，但背散電子訊號(hào)強(qiáng)度較大，且可以觀察背散電子像丶成分像丶拓樸像等多種影像。對(duì)影像觀察丶成份比較相當(dāng)有幫助。

光學(xué)顯微鏡

光學(xué)顯微鏡 光學(xué)顯微鏡主要由目鏡、物鏡、載物臺(tái)和反射鏡組成。目鏡和物鏡都是焦距不同的凸透鏡。物鏡凸透鏡的焦距小于目鏡凸透鏡的焦距。物鏡相當(dāng)于投影儀的鏡頭，物體通過(guò)物鏡變成倒置、放大的實(shí)像。目鏡相當(dāng)于普通的放大鏡，實(shí)像通過(guò)目鏡變成直立、放大的虛像。 從顯微鏡到人眼的物體都是倒置放大的虛像。鏡子用于反射和照亮被觀察的物體。鏡子一般有兩個(gè)反射面：一個(gè)是平面鏡，在光線較強(qiáng)時(shí)使用；另一種是凹面鏡，在光線較弱時(shí)使用，可以將光線會(huì)聚。