?一鍵測量儀的誤差來源？

    在影像測量儀上的測量均是單軸或二維平面坐標的測量,測量時先對焦,后對準,再讀數(shù)(計數(shù)),然后計算處理。讀數(shù)來自于標尺即光柵系統(tǒng),對焦對準依靠顯微鏡光學系統(tǒng),還有一個直接影響測量效果和精度的照明光源,因為,基于影像方法測量的儀器,如果被測件不能被有效正確的照明,則測量的結(jié)果顯然要偏離其真實尺寸。除前述因素外,環(huán)境條件也是制約測量精度不可忽視的因素。

    基于上述分析,可以歸納出以下幾個方面的誤差來源:

a、光柵計數(shù)尺的誤差;

b、工作臺移動時存在的直線度、角擺帶來的誤差;

c、工作臺兩測量軸垂直度帶了的誤差;

d、顯微鏡光軸與工作臺面不垂直帶了的誤差;

e、測量室溫度帶來的誤差;

f、光源照明條件的變化帶來的對焦和對準誤差。

     在這幾種因素中,前四項誤差,是硬件誤差,在儀器制造過程中已經(jīng)形成并固定下來,一般無法改變;溫度影響帶來的誤差,通過控制測量室的溫度和等溫過程來減小其影響。

     其中有一項則常被忽視,而在實際測量中,當光源照明條件改變時,直接影響被測工件的照明效果和影像質(zhì)量,主要是因為影像測量儀的圖像是通過CCD接收,盡管CCD具有自動調(diào)節(jié)增益的功能,但當亮度過大時即失去調(diào)節(jié)功能,導致被測工件影像在縮小,當亮度過低時,工件影像反而變大。

     這種影響,對于測量具有重復圖形結(jié)構(gòu)之間的間距時,只要整個測量過程中照明條件保持不變,其影響可以忽略,因為每個重復圖形結(jié)構(gòu)都同時在變大或變小,間距的測量計算直接消除了影像變形的影響,如測量玻璃尺、網(wǎng)格板刻線間距;除了這種特殊情形外,如測量圓的直徑、工件的長度和寬度,都將帶來明顯的誤差。

一鍵測量儀用于各種檢測工序

      一鍵式測量儀用于各種檢測工序比如：

    1.初樣檢測：通過縮短安裝時間提高生成性，不依賴檢查人員的經(jīng)營，符合國家基準的可追溯管理。

    2.抽樣檢測：通過縮短準備時間提高設(shè)備稼動率，通過提高設(shè)備調(diào)整精度改善成品率，檢測人員以外的人員也可以進行檢測，從而減少品質(zhì)部門的負擔。

   3.入庫檢測：按照規(guī)定標準對多品種產(chǎn)品的入庫檢測進行管理，增加產(chǎn)品數(shù)，降低不良發(fā)生的風險，通過測量未檢查部位從而提高質(zhì)量。

   4.出貨檢測：可對交貨期短的產(chǎn)品進行出貨檢查，減少制作檢測結(jié)果表所需的公時，縮短培訓檢查人員所需的時間，降低人工費。

一鍵式測量儀的測量不同測量方式的優(yōu)勢與劣勢

    1、直接測量和間接測量;直接測量能夠從計量用具取得被測量的直接數(shù)值，而間接測量需求經(jīng)過函數(shù)聯(lián)系算出被測量。為了削減差錯，一般選用直接測量，只要必要時才運用間接測量。

    2、測量和間接測量;測量指被測量的全值從計量用具的讀數(shù)設(shè)備直接讀出的測量，而相對測量是指計量用具的示值表明被測量與已知規(guī)范量的差錯的測量，而被測量為測量儀的示值與規(guī)范量之和。一般來說，相對測量的測量精度比測量高。

    3、單項測量和歸納測量;單項測量是對被測量的工件中的參數(shù)別離進行測量，而歸納測量對相關(guān)幾許量進行歸納點評并斷定。如經(jīng)過不同的測量用具收集到的數(shù)據(jù)點與產(chǎn)品的模型，運用OGP的SmartProfile概括剖析軟件進行 比對今后的差錯作為一種圖形化差錯的斷定，排除了單一尺度判別帶來的現(xiàn)象，更直接。