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發(fā)布時(shí)間:2020-12-19 07:39  
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測(cè)試, High Current Test耐電流測(cè)試
HCT耐電流測(cè)試是耐電流測(cè)試的一種方法。測(cè)試中,孔鏈被施加一恒定的直流電流,使得孔鏈在設(shè)定的時(shí)間(t1-t0)內(nèi)升高到設(shè)定的高溫T1,然后繼續(xù)施加此電流,使得孔鏈在溫度T1至T2范圍以內(nèi),保持設(shè)定的時(shí)間(t2-t1),然后停止施加電流,使孔鏈冷卻時(shí)間(t3-t2),直到達(dá)到室溫。耐電流參數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn)如下內(nèi)置室溫檢測(cè)儀器內(nèi)置室溫檢測(cè),實(shí)時(shí)檢測(cè)室內(nèi)溫度,保證測(cè)試樣品溫度的準(zhǔn)確性。
在測(cè)試過(guò)程中,需要實(shí)時(shí)檢測(cè)孔鏈的電阻,電流。
耐電流參數(shù)測(cè)試儀
HCPT耐電流參數(shù)測(cè)試儀可以用于尋找PCB孔鏈導(dǎo)通可靠性測(cè)試樣品的HCT耐電流測(cè)試合適的電流參數(shù)。儀器采用高l精度的電源模塊和溫度以及電阻采集模塊,對(duì)PCB孔鏈測(cè)試樣品,自動(dòng)嘗試不同的電流,循環(huán)進(jìn)行升溫,保溫,冷卻的過(guò)程,并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)孔鏈的溫度,電流,以及電阻變化。直到找到合適的電流,PCB孔鏈樣品在此電流下,達(dá)到HCT測(cè)試要求。耐電壓測(cè)試儀在吸收、消化耐壓測(cè)試的基礎(chǔ)上,結(jié)合我國(guó)眾多用戶的實(shí)際使用情況加以提高、完善。
HCPT耐電流參數(shù)測(cè)試儀也可以用于PCB孔鏈的HCT耐電流測(cè)試。
耐電流參數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn)如下。
●高精l度、低紋波和低噪音測(cè)試電源
儀器采用高精l度,低噪音的電源模塊,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
●高精l度AD轉(zhuǎn)換測(cè)量模塊
儀器采用16位高精l度AD測(cè)量模塊,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
●專用可移動(dòng)測(cè)試治具
專用可以動(dòng)測(cè)試治具,可以自由放置于生產(chǎn)板任意區(qū)域,大電流四線測(cè)試探針,配合測(cè)試coupon的鏤空測(cè)試墊板適用任意大小尺寸的PCB在制生產(chǎn)板。
可以自由調(diào)節(jié)探針間距以及測(cè)試探頭的位置,適應(yīng)性強(qiáng)。
過(guò)去雷射盲孔的檢測(cè),是運(yùn)用肉眼或3D測(cè)量?jī)x器進(jìn)行逐一檢測(cè),這種方法非常消耗人力,辛苦且只能檢查到一小部分的孔,威太的雷射盲孔檢測(cè)儀可全l面檢測(cè)HDI及ABF板上的每一個(gè)孔,且健側(cè) 時(shí)間從數(shù)小時(shí)大幅度縮減至數(shù)十秒,不但可以測(cè)出不良盲孔,更可以精準(zhǔn)且詳細(xì)的統(tǒng)計(jì)報(bào)告,做為生產(chǎn)的監(jiān)控與改善?!穸喾N孔鏈測(cè)試條溫度測(cè)量方法選擇孔鏈測(cè)試條的溫度測(cè)量可以采用通過(guò)電阻和溫度電阻系數(shù)計(jì)算得到,也可以采用熱電偶測(cè)量得到。
針對(duì)雷射鉆孔的需求,提供具成本與效益的檢查機(jī)量測(cè)解決方案。