大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

如何使用膜厚儀測量的更加準確

基體金屬特性對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

基體金屬厚度

檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資1源網(wǎng) 如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。

邊緣效應(yīng)

不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。