大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

膜厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器，廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。

使用顯微光譜法在微小區(qū)域內通過絕i對反射率進行測量，可進行高i精度膜厚度/光學常數(shù)分析。

可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數(shù)的軟件

膜厚儀如何系統(tǒng)校準?

校準的方法、種類，這是新用戶經常會遇到的問題。系統(tǒng)校準、零點校準還有兩點校準其實都已經在說明書上寫到了，用戶只需仔細閱讀就可以了。需要注意的是：在校準鐵基時1好是多測量幾次以防止錯誤操作;系統(tǒng)校準的樣片要按照從小到大的順序進行。如果個別標準片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。

膜厚儀直接的鍍膜操縱方法是石英晶體微量平衡法(QCM)，此法可以直接驅動蒸發(fā)祥，通過PID控制循環(huán)驅動擋板，保持蒸發(fā)速率。只有將儀器與系統(tǒng)控制軟件相連接，它就可能節(jié)制全體的鍍膜進程。然而QCM的正確度是有限的，部分起因是由于它監(jiān)控的是被鍍膜的質量而不是其光學厚度。