低本底的探測(cè)原理

中核控制系統(tǒng)工程有限公司——專業(yè)低本底供應(yīng)商，我們?yōu)槟鷰?lái)以下信息。

探測(cè)原理：探測(cè)器頂端的閃爍體是由α閃爍物質(zhì)和β閃爍物質(zhì)壓制在的有機(jī)玻璃板上。由于α粒子和β射線進(jìn)入閃爍物質(zhì)時(shí)后，將全部能量損失在閃爍物質(zhì)上，引起閃爍發(fā)光，閃爍光子被光電倍增管接收并轉(zhuǎn)換產(chǎn)生電信號(hào)。電信號(hào)進(jìn)入電子線路，轉(zhuǎn)換成電脈沖信號(hào)，被記錄。每一個(gè)α粒子撞擊閃爍體后產(chǎn)生的光信號(hào)進(jìn)入電子線路整合后在顯示器上被記錄成一個(gè)計(jì)數(shù)?？梢宰詣?dòng)生成并打印輸出吸碘率曲線，可以輸入本地吸碘率正常值范圍。所以低本底αβ測(cè)量?jī)x也被通俗叫做低本底αβ計(jì)數(shù)器。計(jì)數(shù)率與樣品中核素活度（發(fā)射的αβ粒子數(shù)量）成正比。

低本底測(cè)量?jī)x主要技術(shù)指標(biāo)

主要技術(shù)指標(biāo)

儀器對(duì)于90Sr-90Yβ源（活性區(qū)Φ20mm）的2π探測(cè)效率比≥50％時(shí)， 本底≤0.15cm-2min-1；

儀器對(duì)于241Amα源（活性區(qū)Φ25mm）的2π探測(cè)效率比≥80％時(shí)， 本底≤0.005cm-2min-1；

α／β交叉性能：α進(jìn)入β道的計(jì)數(shù)比＜3％（對(duì)241Am）， β進(jìn)入α道的計(jì)數(shù)比＜0.5％（對(duì)于90Sr-90Y）；

長(zhǎng)期穩(wěn)定性

重復(fù)性：儀器連續(xù)通電8小時(shí)，探測(cè)效率變化＜±10％；

本底穩(wěn)定性：在8小時(shí)的測(cè)量時(shí)間內(nèi)，本底計(jì)數(shù)變化應(yīng)在(Nb±3σ)的范圍內(nèi),其中Nb為本底計(jì)數(shù)的平均值，σ為本底計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)誤差。

儀器靈敏度：α≥5×10-3Bq；β≥1×10-2Bq

耐壓絕緣度＞1500V；

絕緣電阻≥2MΩ；

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