FE3000反射式膜厚量測儀:產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長及步值，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測量

電流-量子效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標(biāo)曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

FE3000反射式膜厚量測儀原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實(shí)現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對(duì)產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測試并對(duì)其熒光材料特性做出評(píng)價(jià)。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對(duì)光譜進(jìn)行測量。

關(guān)于冷卻水的更換沒有特定的時(shí)間要求，可目視，發(fā)現(xiàn)水有污垢時(shí)請更換冷卻水。更換時(shí)請用自來水或是軟水（不可使用純水，如使用純水，會(huì)和空氣中的CO2結(jié)合形成酸性環(huán)境，從而導(dǎo)致冷卻裝置內(nèi)部遭到腐蝕）。

應(yīng)用范圍■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有機(jī)EL)

■ 半導(dǎo)體、復(fù)合半導(dǎo)體

?矽半導(dǎo)體、半導(dǎo)體雷射、強(qiáng)誘電、介電常數(shù)材料

■ 資料儲(chǔ)存

?DVD、磁頭薄膜、磁性材料

■ 光學(xué)材料

?濾光片、抗反射膜

■ 平面顯示器

?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料

量測范圍玻璃上的二氧化鈦膜厚、膜質(zhì)分析

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測試的系統(tǒng)。

     原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實(shí)現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對(duì)產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測試并對(duì)其熒光材料特性做出評(píng)價(jià)。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對(duì)光譜進(jìn)行測量。

光纖在極度彎曲后會(huì)有可能發(fā)生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內(nèi)，然后放入積分半球內(nèi)。