EMC系統(tǒng)測(cè)試方案

這是一種靈活、可靠的解決方案，可用來(lái)按照IEC/EN 61000-4-3標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行EMS輻射測(cè)試。該先進(jìn)的測(cè)試平臺(tái)包括EMS和EMI測(cè)試需要的所有部件，覆蓋了預(yù)認(rèn)證和認(rèn)證測(cè)試要求的所有通用頻段和場(chǎng)強(qiáng)。鑒于系統(tǒng)的模塊化設(shè)計(jì)和多樣化配置功能，用戶(hù)可以對(duì)其進(jìn)行調(diào)整以適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的變更和廠家特殊測(cè)試要求。它主要研究電磁波輻射，電磁干擾，雷擊，電磁材料等方面。該系統(tǒng)還可以擴(kuò)展以應(yīng)對(duì)未來(lái)技術(shù)和新的EMC應(yīng)用。

電磁干擾主要包括輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射。

輻射發(fā)射：通過(guò)空間以電磁波形式傳播的電磁干擾。

傳導(dǎo)發(fā)射：沿著導(dǎo)體傳播的電磁干擾。

測(cè)試場(chǎng)地：開(kāi)闊場(chǎng)、半電波暗室、屏蔽室。

電磁干擾測(cè)試主要設(shè)備：

1、電波暗室

2、接收機(jī)

3、接收天線

4、人工電源網(wǎng)絡(luò)

5、功率吸收嵌

6、轉(zhuǎn)臺(tái)、升降臺(tái)

7、轉(zhuǎn)臺(tái)、升降臺(tái)控制器

EMC測(cè)試項(xiàng)目，EMC測(cè)試項(xiàng)目各項(xiàng)收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)。

EMC包含兩大項(xiàng)：EMI（干擾）和 EMS(敏感度，抗干擾）

EMI測(cè)試項(xiàng)包括：RE（輻射，發(fā)射）

CE(傳導(dǎo)干擾）

Harmonic（諧波）

Flicker (閃爍）EMS測(cè)試項(xiàng)包括：ESD （靜電）

EFT（瞬態(tài)脈沖干擾）

DIP(電壓跌落）

CS（傳導(dǎo)抗干擾）

RS（輻射抗干擾）

Surge（浪涌，雷擊）

PMS(工頻磁場(chǎng)抗擾度）

EMI（Electro-Magnetic Interference）---電磁騷擾測(cè)試

EMI測(cè)試主要內(nèi)容：

Radiated Emission －輻射騷擾測(cè)試

Conducted Emission－傳導(dǎo)騷擾測(cè)試

Harmonic－諧波電流騷擾測(cè)試

Flicker－電壓變化和閃爍測(cè)試

---------------------------------------------------------------