許多行業(yè)都需要能夠在極端高溫等惡劣環(huán)境下可靠工作的電子設(shè)備。依照傳統(tǒng)做法，在設(shè)計需要在常溫范圍之外工作的電子設(shè)備時，工程師必須采用主動或被動冷卻技術(shù)，但某些應(yīng)用可能無法進行冷卻，或是電子設(shè)備在高溫下工作時更為有利，可提升系統(tǒng)可靠性或降低成本。這便提出了影響電子系統(tǒng)方方面面的諸多挑戰(zhàn)，包括硅、封裝、認(rèn)證方法和設(shè)計技術(shù)。

　高溫測試詳細(xì)介紹：本測試是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。

　　低溫試驗介紹：本試驗是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。

　　在我們的大自然環(huán)境中，溫度和濕度是不可分割的兩個自然因素，不同地區(qū)由于不同的地理位置，產(chǎn)生的溫度、濕度效應(yīng)也各不相同。本試驗是用來確認(rèn)產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時間。

在冷熱沖擊試驗當(dāng)中，為關(guān)鍵的是建立起不同材料熱脹冷縮不一致造成的應(yīng)力。實際熱沖擊可能發(fā)生在受試產(chǎn)品的外部，有關(guān)資料指出不必達(dá)到整個產(chǎn)品溫度穩(wěn)定，而只要受試產(chǎn)品外表而溫度與試驗溫度一致就行。這一意見是雖有一定道理，實施起來也有一定困難，因為不可能在產(chǎn)品表面安裝許多傳感器，此外產(chǎn)品各部分傳熱能力不一致，受試產(chǎn)品內(nèi)部鄰近部件熱容量也不一致，確定起來有難度。