在線3D AOI VS7000 高度截面定位技術(shù)。通過高度截面定位技術(shù)，避免絲印、PCB 板面及元件來料顏色變化等干擾，可有效解決定位問題。 ● 智能平整性檢測技術(shù)平整性檢測與高度檢測的結(jié)合，可將來料高度偏差所引起的誤報完全去除。

為客戶提供專業(yè)、及時的技術(shù)服務。不幸的是，這些選擇在日后對AOI或AXI檢查過程中造成的影響往往被忽圖2略了。憑著優(yōu)的設(shè)備性能、完善的售后服務，在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中，明銳人將秉持“誠信為本、服務客戶、精益求精”的核心價值觀，以對“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求，成為業(yè)界的視覺檢查方案供應商，用智慧與心血為世界重新定義“視覺與智能”的內(nèi)涵。

AOI產(chǎn)品廣泛應用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡、航空航天、汽車電子等各個領(lǐng)域，為客戶提供高檢出、低誤報、簡單易用、功能強大的視覺檢查系統(tǒng)。

AOI 四個檢測位置中, 錫膏印刷之后、 ( 片式 ) 器件貼放之后和元件貼放之后的檢測目的在于預防問題,在這幾個位置檢測, 能夠阻止缺陷的產(chǎn)生; 在回流焊接之后的檢測, 則目的在于發(fā)現(xiàn)問題。而Teradyne的AOI通常有5個攝像頭,四個傾斜的和一個垂直的,由于其AOI在同一位置掃描5次,因此極大的提高了測試的覆蓋率。預防問題 AOI放置在爐前, 發(fā)現(xiàn)問題 AOI 放置在爐后。當前來說, 爐前的 AOI 比爐后的 AOI 重要, 但爐后的檢查特別是焊點類不良的檢查是 AOI 的檢查的難點, Teradyne 的Optima7000 系統(tǒng)就側(cè)重于爐后的檢測。更多的 AOI 都具有很大的彈性度, 安捷倫的 SJ50 與 SP50 ( 三維) 焊膏檢測系統(tǒng)使用統(tǒng)一化平臺, 可以互換照明頭。 Omron和 Teradyne 的 AOI 都可以移到其它測試位置。

AOI為客戶提供專業(yè)、及時、的技術(shù)服務。這類方法算法簡單,容易實現(xiàn),但是它不容易檢測線寬、線距違例等瑕疵。憑著的設(shè)備性能、完善的售后服務，在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中，明銳人將秉持“誠信為本、服務客戶、精益求精”的核心價值觀，以對“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求，成為業(yè)界的視覺檢查方案供應商，用智慧與心血為世界重新定義“視覺與智能”的內(nèi)涵。

波長光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測設(shè)備中的紅綠藍LED光源。當前AOI檢測系統(tǒng)圖像處理基本上采用的是參考算法,國外進口品牌大多使用圖像匹配、法則判別登多種組合手段。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源，一些特殊材料在可見光范圍內(nèi)吸收差別不大，灰階變化不明顯時可以考慮采用特殊波長光源，比如說利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，檢測具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對應關(guān)系的原理，紅外光源對不具有發(fā)光性質(zhì)的有機化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實現(xiàn)成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化，利用光學干涉原理的白光干涉（white light interferometry）在特定缺陷檢測中的得到了應用，例如通過相干光的干涉圖案計算出對應的相位差和光程差，可以測量出被測物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達到亞波長，測量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測的新需求。