一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。這幾類的設備都是根據客戶實際需要而設計的，例如：使用無X、Y軸移動裝置的也很多，結構簡單，樣品水平移動完全靠手動移動，這種設備適合于樣品面積較大，定位比較容易的測試對象。

隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。波長色散型是由色散元件將不同波長的特征X射線衍射到不同的角度上，探測器需移動到想要的位置上來探測某一波長能量的射線。

江蘇一六儀器    我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。002um~100um左右，能測試5層以上膜厚，并且可以測量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。

-樣品觀察系統(tǒng)高分辨、彩色、實時CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

7計算機系統(tǒng)配置IBM計算機:1.6G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，17寸彩顯，56K調制解調器?；萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C。

8分析應用軟件操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺中文分析軟件包:SmartlinkFP軟件包

   江蘇一六儀器有限公司  專業(yè)鍍層測厚檢測   歡迎來電詳詢！ 

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較，被測元素的特征X射線熒光強度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關，而且與厚度直接相關。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法，具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速，方便，測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關企業(yè)作為過程控制和檢測使用。是目前應用為廣泛，具有速度快、無損化以及可實現多鍍層同時分析等特點。打開測試腔放入標準元素片Ag，通過調整移動平臺滑軌和焦距旋鈕使軟件測試畫面清晰7。

江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測厚儀

      電鍍液測量杯整套含兩個測量杯，可用于多品牌X-RAY測厚儀上使用，高純元素本底提高測量精度和檢出限。電鍍液測試樣品杯，嚴格控制了容量和溢出物的處理，用來測試溶液中金屬離子的濃度；使用方便簡捷，無污染。

測試膜，又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測膜，光譜儀樣品薄膜；不要用任何機械或化學的方法清除調校片上的臟物,可以用不起毛的布輕輕擦拭。是應用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內的物質。專用樣品薄膜是使用方便簡捷，無污染的測試用樣品薄膜，廣泛應用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。