江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測厚儀

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求

移動平臺可定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊

鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

     一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

   江蘇一六儀器  X熒光測厚儀測試要求：

工作要求：

1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2 環(huán)境相對濕度：<70%

3 工作電源：交流220±5V

4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。

5 Max功率 ：330W

6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

7 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

8 儀器重量 ：55kg

9 分析軟件EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析

10 軟件操作人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤

11 X射線裝置：W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管

     X射線熒光光譜測厚儀   X射線的產(chǎn)生  

X射線波長略大于0.5納米的被稱作軟X射線。波長短于0.1納米的叫做硬X射線。

產(chǎn)生X射線的簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，其損失的動能(其中的1%)會以光子形式放出，形成X光光譜的連續(xù)部分，稱之為制動輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內(nèi)層電子撞出。于是內(nèi)層形成空穴，外層電子躍遷回內(nèi)層填補(bǔ)空穴，同時放出波長在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波長也集中在某些部分，形成了X光譜中的特征線，此稱為特性輻射。因此，往往在測試對象幾何結(jié)構(gòu)基本上沒有變化的情況下使用比較快捷。