一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。

 測(cè)量注意事項(xiàng)：1.測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

2.測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)

4.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些

   我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí)，如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問(wèn)題，甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來(lái)了解下先：

  一、技術(shù)參數(shù)

  采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法。通過(guò)選擇相應(yīng)的測(cè)頭，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；

  測(cè)量范圍：（0~1250）μm（F1、N1測(cè)頭），F(xiàn)10測(cè)頭可達(dá)10mm；

  分辨率：0.1μm（F1、N1測(cè)頭）

  示值精度：±（3％H 1）μm；H為被測(cè)涂層厚度

  顯示方法：高對(duì)比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；

  存儲(chǔ)容量：可存儲(chǔ)20組（每組多50個(gè)測(cè)量數(shù)值）測(cè)量數(shù)據(jù)

  單位制：公制μm、英制（mil）、可自由轉(zhuǎn)換 ? 工作電壓：3V（2節(jié)5號(hào)堿性電池）

  持續(xù)工作時(shí)間：大于200小時(shí)（不開背光燈）

  通訊接口：USB1.1，可與PC機(jī)連接、通訊

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。顯示測(cè)量結(jié)果后，一定要提起測(cè)頭至距離工件10mm以上，才可以進(jìn)行下次測(cè)量。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些

     影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過(guò)程中，可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見，也是需要注意的一個(gè)點(diǎn)。因此我們也就得對(duì)影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。

   (1)附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是luo露的、光滑的。