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發(fā)布時(shí)間:2020-10-21 08:34  
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我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。在當(dāng)今信息時(shí)代,隨著電子工業(yè)的迅猛發(fā)展,計(jì)算機(jī)、移動(dòng)電話等產(chǎn)品日益普及。
故障特點(diǎn) /電子元器件
電器設(shè)備內(nèi)部的電子元器件雖然數(shù)量,但其故障卻是有規(guī)律可循的。
半導(dǎo)體器件損壞特點(diǎn)
二、三極管的損壞是PN結(jié)擊穿或開(kāi)路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現(xiàn):一是熱穩(wěn)定性變差,表現(xiàn)為開(kāi)機(jī)時(shí)正常,工作一段時(shí)間后,發(fā)生軟擊穿;另一種是PN結(jié)的特性變差,用萬(wàn)用表R×1k測(cè),各PN結(jié)均正常,但上機(jī)后不能正常工作,用R×10或R×1低量程檔測(cè),就會(huì)發(fā)現(xiàn)其PN結(jié)正向阻值比正常值大。測(cè)量二、三極管可以用指針萬(wàn)用表在路測(cè)量,較準(zhǔn)確的方法是:將萬(wàn)用表置R×10或R×1檔(用R×10檔,不明顯時(shí)再用R×1檔)在路測(cè)二、三極管的PN結(jié)正、反向電阻,正向電阻不太大(正常值),反向電阻足夠大(正向值),表明該P(yáng)N結(jié)正常,反之就值得懷疑,需焊下后再測(cè)。由于焊料或者前置焊球所引發(fā)的“陰影”效果限制了X射線設(shè)備的檢測(cè)工作,使之僅能粗略地反映BGA的工藝過(guò)程缺陷,例如:橋接現(xiàn)象。這是電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐,用萬(wàn)用表低阻值檔在路測(cè)量,可以基本忽略外圍電阻對(duì)PN結(jié)電阻的影響。
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。BGA器件的性能和組裝優(yōu)于常規(guī)的元器件,但是許多生產(chǎn)廠家仍然不愿意投資開(kāi)發(fā)大批量生產(chǎn)BGA器件的能力。
檢測(cè)方法/電子元器件
電解電容器的檢測(cè)
A 因?yàn)殡娊怆娙莸娜萘枯^一般固定電容大得多,所以,測(cè)量時(shí),應(yīng)針對(duì)不同容量選用合適的量程。根據(jù)經(jīng)驗(yàn),一般情況下,1~47μF間的電容,可用R×1k擋測(cè)量,大于47μF的電容可用R×100擋測(cè)量。
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再流焊接
設(shè)置焊接溫度可根據(jù)器件的尺寸,PCB的厚度等具體情況設(shè)置,BGA的焊接溫度與傳統(tǒng)SMD相比,要高出15度左右。
檢驗(yàn)
BGA的焊接質(zhì)量檢驗(yàn)需要X光或超聲波檢查設(shè)備,在沒(méi)有檢查設(shè)備的的情況下,可通過(guò)功能測(cè)試判斷焊接質(zhì)量,也可憑經(jīng)驗(yàn)進(jìn)行檢查。拆下的BGA器件一般情況可以重復(fù)使用,但必須進(jìn)行植球處理后才能使用。把焊好的BGA的表面組裝板舉起來(lái),對(duì)光平視BGA四周,觀察是否透光、BGA四周與PCB之間的距離是否一致、觀察焊膏是否完全融化、焊球的形狀是否端正、焊球塌陷程度等。如果不透光,說(shuō)明有橋接或焊球之間有焊料球;如果焊球形狀不端正,有歪扭現(xiàn)象,說(shuō)明溫度不夠,焊接不充分,焊料再流動(dòng)時(shí)沒(méi)有充分的發(fā)揮自定位效應(yīng)的作用;焊球塌陷程度:塌陷程度與焊接溫度、焊膏量、焊盤(pán)大小有關(guān)。在焊盤(pán)設(shè)計(jì)合理的情況下,再流焊后BGA底部與PCB之間距離比焊前塌陷1/5-1/3屬于正常。如果焊球塌陷太大,說(shuō)明溫度過(guò)高,容易發(fā)生橋接。如果BGA四周與PCB之間的距離是不一致說(shuō)明四周溫度不均勻。
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BGA器件的結(jié)構(gòu)可按焊點(diǎn)形狀分為兩類:球形焊點(diǎn)和校狀焊點(diǎn)。1光學(xué)顯微鏡分析技術(shù)2紅外分析技術(shù)3聲學(xué)顯微鏡分析4液晶熱點(diǎn)檢測(cè)技術(shù)5光輻射顯微分析技術(shù)6微分析技術(shù)。BGA技術(shù)的出現(xiàn)是IC器件從四邊引線封裝到陣列焊點(diǎn)封裝的一大進(jìn)步,它實(shí)現(xiàn)了器件更小、引線更多,以及優(yōu)良的電性能,另外還有一些超過(guò)常規(guī)組裝技術(shù)的性能優(yōu)勢(shì)。這些性能優(yōu)勢(shì)包括高密度的I/O接口、良好的熱耗散性能,以及能夠使小型元器件具有較高的時(shí)鐘頻率。
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