大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

為什么膜厚儀有時(shí)測量不準(zhǔn)確?

強(qiáng)磁場的干擾。我們?cè)鲞^一個(gè)簡單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時(shí)，測量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

人為因素。這種情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。膜厚儀之所以能夠測量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測量過程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對(duì)測量有很大影響，在測量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。在使用儀器測量過程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測量。