低本底

測(cè)量次數(shù)和每次測(cè)量時(shí)間：測(cè)量次數(shù)和每次測(cè)量時(shí)間由參數(shù)設(shè)置功能設(shè)定。當(dāng)開始測(cè)量后，已測(cè)時(shí)間和剩余時(shí)間將按秒增減。當(dāng)已測(cè)時(shí)間達(dá)到預(yù)定時(shí)間后，測(cè)量次數(shù)加一，已測(cè)時(shí)間和剩余時(shí)間將復(fù)位（分別置為零和預(yù)定時(shí)間），然后開始下一時(shí)間段的測(cè)量。每完成一個(gè)時(shí)間段的測(cè)量，數(shù)據(jù)將被保存。當(dāng)由于停電等某種原因中止了測(cè)量進(jìn)程，以前幾個(gè)時(shí)間段所測(cè)得的數(shù)據(jù)不會(huì)丟失。當(dāng)恢復(fù)運(yùn)行后（不要清除已測(cè)的數(shù)據(jù)?。┛梢越又瓿墒Ｓ鄮讉€(gè)時(shí)間段的測(cè)量。

如何挑選低本底測(cè)量?jī)x？　　

首先，低本底測(cè)量?jī)x要挑選設(shè)計(jì)合理且性能穩(wěn)定的儀器　　合理的設(shè)計(jì)可以極大地方便實(shí)驗(yàn)者的整個(gè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程，例如操作界面布局是否合理、放樣取樣是否方便、各個(gè)零部件拆卸是否方便等。而穩(wěn)定的性能能夠準(zhǔn)確的檢出樣品中，不因?yàn)橛钪嫔渚€等的存在而被干擾。實(shí)驗(yàn)室在挑選時(shí)，可以多方參考，聽取低本底測(cè)量?jī)x的介紹，同時(shí)也可以聽取同行的一些意見?！　∑浯危暨x可靠的設(shè)備生產(chǎn)商　　品質(zhì)好的低本底測(cè)量?jī)x必然出自可靠的低本底測(cè)量?jī)x生產(chǎn)商，因此挑選一家可靠的設(shè)備生產(chǎn)商是毋庸置疑的。這類生產(chǎn)商拿出的產(chǎn)品將具有更好的質(zhì)量，同時(shí)還能憑借在業(yè)內(nèi)深耕多年的實(shí)力，低本底測(cè)量?jī)x而將設(shè)備的售價(jià)進(jìn)一步做低，讓購(gòu)買者能夠購(gòu)入更具性價(jià)比的低本底測(cè)量?jī)x。

低本底測(cè)量?jī)x應(yīng)根據(jù)數(shù)據(jù)的處理方面，應(yīng)該延伸丈量樣品的時(shí)刻，該儀器可用于低水平αβ樣品丈量,并可區(qū)別αβ粒子.論述了αβ雙閃耀體勘探器的主要參數(shù)和先進(jìn)的數(shù)字化電路規(guī)劃思路,給出了儀器αβ本底水平,串道比,αβ功率等物理性能的測(cè)驗(yàn)?zāi)繕?biāo).描繪了儀器軟件主動(dòng)坪曲線丈量,主動(dòng)刻度等功能的規(guī)劃.本實(shí)用新型供給一種用于低本底αβ測(cè)量?jī)x藍(lán)光雙閃晶體勘探器,包含順次相銜接的勘探器,光電倍增管,前置放大器,所述前置放大器與操控端進(jìn)行銜接,所述勘探器包含塑料閃耀體,避光層,所述避光層盤繞塑料閃耀體外圍