SPI設(shè)備和AOI設(shè)備有什么不同呢？它們各自有什么特點？下面為你講解SPI和AOI的區(qū)別在哪些地方：工藝參數(shù)驗證及其他：對于一種新的特加工的單板，從印刷工藝參數(shù)到回流焊工藝參數(shù)，都需要精心調(diào)制，而這些參數(shù)的設(shè)置是否合理，還是取決于焊接質(zhì)量的好壞，這一過程必須要經(jīng)過多次試驗才能實現(xiàn)。AOI提供了驗證試驗結(jié)果有效手段。

AOI的全稱是自動光學(xué)檢測，是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進行檢測的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測試設(shè)備。目前AOI的功能一般都比較全，也沒有多大的差別。下面就一些常見的功用作一些簡要的說明。特殊功能的選擇：如果你要對多連板的PCBA進行檢測，就一定要選擇有跳板功能的AOI，也就是有區(qū)域選擇功能的AOI。如果你將AOI用作質(zhì)量的過程控制，那么，你在選擇AOI時，一定要選擇具有RPC功能的AOI，也就是具有實時工藝過程控制的AOI。

AOI的全稱是自動光學(xué)檢測，是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進行檢測的設(shè)備。AOI系統(tǒng)組成是由相機、鏡頭、光源、計算機等通用器件集成的簡單光學(xué)成像與處理系統(tǒng)。

檢測誤判的定義及存在原困 誤判的理解及產(chǎn)生原因：元件及焊點本來有發(fā)生不良的傾向，但處于允收范圍。如元件本來發(fā)生了偏移，但在允收范圍內(nèi)；此類誤判主要是由于闕值設(shè) 定過嚴(yán)造成的，也可能是其本身介于不良與良品標(biāo)準(zhǔn)之間，AOI與MV(人工目檢)確認(rèn)造成的偏差，此類誤判是可以通過調(diào)整及 與MV協(xié)調(diào)標(biāo)準(zhǔn)來降低。

檢測誤判的定義及存在原困 誤判的理解及產(chǎn)生原因： 元件及焊點無不良傾向，但由于DFM設(shè)計時未考慮AOI的可測性，而造成AOI判定良與否有一定的難度，為保證檢出效果，將 引入一些誤判。如焊盤設(shè)計的過窄或過短，AOI進行檢測時較難進行很準(zhǔn)確的判定，此類情況所造成的誤判較難消除，除非改進 DFM或放棄此類元件的焊點不良檢測。