KOAN 諧振器的電性能參數(shù)

KOAN 晶體諧振器之 R1 諧振電阻（能耗），動態(tài)電感 L 和 DLD2：諧振電阻 R1 與 Q 值（品質因數(shù)）成反比，Q 值由生長水晶料品質決定，越高，固有頻率越穩(wěn)定。動態(tài)電感 L，表征振動質量，與頻率大小成反比。DLD2：激勵功率變化引起的阻抗變化，由殘留應力和制造污染造成，越小越好。小型化發(fā)展趨勢：諧振電阻（R1）變大，CL 變低。

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KOAN 晶振的振蕩寬限評價方法示例

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在設計好的電路中，KOAN 晶體兩邊串聯(lián)連接上純電阻 RX，確認振蕩的開始或結束后，緩慢地使 RX 值逐漸變大或變小，開始或結束振蕩時的大電阻RX 加上晶振的等效電阻 Re，就是該電路的大概負性電阻的數(shù)值。在振蕩頻率附近及起動時的小信號符合：│-RX│≥5Re，盡量不要超過諧振阻抗的 20 倍，防止激勵功率過大。

石英晶振哪個應用環(huán)節(jié)容易造成問題

首先，由于晶體的設計加工水平差異以及客戶端外圍電路雜散電容難以確定，一定程度上增加了匹配難度。不同的頻率器件，電性能參數(shù)都有不同，以及不能根據不同客戶產品差異化需求的匹配判斷，都可能造成工作不穩(wěn)定。另外，客戶端產品裝配環(huán)節(jié)，如何規(guī)范 SMT 貼裝和手工焊接工藝，不造成損傷晶振，也直接影響電子產品的穩(wěn)定性。

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晶體諧振器

關于晶體諧振器小型化發(fā)展的激勵功率控制問題：晶體越小，震蕩所需能量越少，如果驅動強度過大會引起副震蕩和熱過沖，晶體頻率變化率與驅動電流平方成比例，產生幅頻效應，振幅過大，會破壞晶片內部機理，使動態(tài)電感下降，振動質量下降，嚴重時失效。

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