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發(fā)布時(shí)間:2021-01-01 11:45  
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江蘇一六儀器 X射線熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
性能優(yōu)勢(shì):
下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件。
測(cè)厚儀
測(cè)厚儀(thickness gauge )是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計(jì);有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì);有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì);除了正常使用過(guò)程中X射線源會(huì)出現(xiàn)衰減,在出現(xiàn)某些故障是,也會(huì)發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化通過(guò)不過(guò),反饋的電壓與工廠現(xiàn)場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度肯定是不準(zhǔn)確的。還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠 一六儀器一liu品質(zhì) 可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,歡迎來(lái)電咨詢!
率的jie shou qi:即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
激光測(cè)厚儀的技術(shù)指標(biāo)介紹
激光測(cè)厚儀一般是由兩個(gè)激光位移傳感器上下對(duì)射的方式組成的,上下的兩個(gè)傳感器分別測(cè)量被測(cè)體上表面的位置和下表面的位置,通過(guò)計(jì)算得到被測(cè)體的厚度。激光測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn)在于它采用的是非接觸的測(cè)量,相對(duì)接觸式測(cè)厚儀更精準(zhǔn),不會(huì)因?yàn)槟p而損失精度。相對(duì)超聲波測(cè)厚儀精度更高。相對(duì)X射線測(cè)厚儀沒(méi)有輻射污染。H為被測(cè)涂層厚度顯示方法:高對(duì)比度的段碼液晶顯示,高亮度EL背光。



一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x
儀器規(guī)格:
外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm (長(zhǎng)x寬x高)
樣品倉(cāng)尺寸 :500mm×360 mm ×215mm (長(zhǎng)x寬x高)
儀器重量 :55kg
供電電源 :交流220±5V
da功率 :330W
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些
第四,在生產(chǎn)過(guò)程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度造成影響。我們利用測(cè)厚儀測(cè)量是,會(huì)事先給測(cè)厚儀輸入一個(gè)補(bǔ)償值,讓測(cè)量值與實(shí)際值相等。在這個(gè)過(guò)程中,操作者首先對(duì)板材進(jìn)行測(cè)量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會(huì)造成補(bǔ)償值的大小不等,會(huì)形成人為的誤差。只有在進(jìn)行測(cè)量時(shí),操作者認(rèn)真操作,減少補(bǔ)償值得測(cè)算誤差,使補(bǔ)償值接近真實(shí)值,提高X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度。手持式的磁感應(yīng)原理是,利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。