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發(fā)布時間:2020-10-30 02:01  
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FCT功能測試系統(tǒng)概述
功能測試涉及負載、機構(gòu)、模擬、數(shù)字、存儲器、RF和電源電路,通常要用不同的測試策略。測試包括大量實際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗證(確定沒有硬件錯誤),以彌補前面測試過程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數(shù)字激勵不斷加到被測單元(UUT)上,同時監(jiān)測同樣多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應,并完全控制其執(zhí)行過程。在測試過程中壓板下壓時,如果壓板、載板、針板固定不佳,容易產(chǎn)生晃動,從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形,進行而導致測試針和測試點接觸不良或者位置偏移,使得測試針彎曲變形引起誤測甚至導致UUT裂損。
FCT測試系統(tǒng)分類
按控制方式依照控制方式不同,F(xiàn)CT可以分為:嵌入式MCU控制方式、基于PLC控制方式、基于PC控制方式等。嵌入式MCU的特點是執(zhí)行速度快、操作簡單,但這種實現(xiàn)方式的專用性較強不容易擴展?;赑LC的控制方式,其重點在于控制部分,測量功能相對較弱,比較適合以控制為主的場合?;赑C的控制方式目前使用較為廣泛,它具有PC機價格低廉、數(shù)據(jù)處理功能強大、測試程序開發(fā)工具豐富等優(yōu)點。FCT測試系統(tǒng)分類按操作模式依操作模式的不同,功能測試系統(tǒng)可以分為手動控制功能測試、半自動控制功能測試、全自動控制功能測試。
fct功能測試治具原理
常規(guī)的治具設(shè)計,大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測試過程中壓板下壓時,如果壓板、載板、針板固定不佳,容易產(chǎn)生晃動,從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形,進行而導致測試針和測試點接觸不良或者位置偏移,使得測試針彎曲變形引起誤測甚至導致UUT裂損。(2)是對PCB的信號進行調(diào)理,使調(diào)理后的信號能夠滿足測試儀器的量程范圍。上述情況的發(fā)生,尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時更容易產(chǎn)生。
功能測試系統(tǒng)FCT 是指采用測控計算機(TCC)實現(xiàn)自動化測試的系統(tǒng),通常建立在標準的測控總線或儀器總線如GPIB、PXI 的基礎(chǔ)上,從結(jié)構(gòu)組成來看,F(xiàn)CT自動測試系統(tǒng)一般由測控計算機、測試軟件、測試電路、測試針床、機械傳動等部分組成。FCT測試系統(tǒng)接口隨著自動測試技術(shù)的發(fā)展,傳統(tǒng)的人工測試正在逐漸被自動測試所取代。其中主要的模塊包括:
測量控制部分
由若干的控制主機、微處理器組成,測量部分的板卡和儀表完成測試過程中各種模擬或者數(shù)字量的采集工作,控制測試流程和狀態(tài),對測量數(shù)據(jù)和結(jié)果進行記錄和判斷,終得出測試結(jié)果。
控制執(zhí)行部分
控制執(zhí)行部分是測試過程邏輯動作的感應和執(zhí)行機構(gòu),主要由I四/O部件組成,F(xiàn)CT通過它來搭建硬件環(huán)境、構(gòu)造人機交互、協(xié)調(diào)前后道生產(chǎn)線邏輯選析,實現(xiàn)測試的功能。
數(shù)據(jù)采集部分
實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)和結(jié)果的存儲、運算、分析、輸出,一般以結(jié)構(gòu)性數(shù)據(jù)庫為載體,測試軟件以之為基礎(chǔ)而實現(xiàn)對PCBA的流程管理和質(zhì)量控制。