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發(fā)布時(shí)間:2020-11-11 09:28  
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三維形貌測量儀對于樣品表面特性研究案例
材料科學(xué)的目標(biāo)是研究材料表面結(jié)構(gòu)對于其表面特性的影響。因此,高分辨率分析表面形貌對確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學(xué)性能及表面質(zhì)量等相關(guān)參數(shù)具有重要意義。
符合國際標(biāo)準(zhǔn)的NanoFocus測量系統(tǒng)適用于各種不同材料的測量需求,滿足滿足規(guī)格要求并使工藝流程優(yōu)化,這意味著在縮短開發(fā)時(shí)間的同時(shí)降低成本。
蘇州盟訊電子有限公司專注于光學(xué)微結(jié)構(gòu)熱壓設(shè)備,工藝及服務(wù),公司擁有設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)8年 /工藝經(jīng)驗(yàn)5年 ,以其自主研發(fā),技術(shù)創(chuàng)新,不斷推新導(dǎo)光膜卷/片材熱壓設(shè)備﹑同時(shí)適用于LED導(dǎo)光板/擴(kuò)散板/PS/PMMA/照明/面板/燈飾/燈箱/電視TV等納米導(dǎo)光板片材熱壓設(shè)備﹑激光鐳射/金屬雕刻機(jī),不銹鋼板雕刻激光設(shè)備,304不銹鋼板,8/10/12K,進(jìn)口日料超鏡面覆膜不銹鋼板/帶,等一系列光學(xué)膜周邊配套設(shè)備及周邊輔材,并提供相關(guān)生產(chǎn)工藝及生產(chǎn)材料的整體解決方案,現(xiàn)
影像測量儀的誤差來源有哪些呢? (1)光柵尺記數(shù)的偏差; (2)操作臺挪動時(shí)存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; (3)操作臺兩精l確測量軸平整度帶的偏差; (4)攝像鏡頭直線光軸與操作臺不垂直帶的偏差; (5)精l確測量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; (6)燈源照明燈具標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動對焦和指向偏差。
一、三維表面形貌儀測量原理:低相干白光同時(shí)照射樣品和參考平面,被樣品和參考平面反射的兩束白光發(fā)生干涉后由陣列式CMOS探測器接收,由于探測器直接與信號處理芯片(Smart Pixel技術(shù))連接,所以陣列上每個(gè)像素點(diǎn)的信號都在芯片中完成鎖相放大,背景信號補(bǔ)償和結(jié)果計(jì)算輸出,成像于計(jì)算機(jī)就實(shí)現(xiàn)了樣品表面的快速三維形貌測量。 二、三維表面形貌儀技術(shù)特點(diǎn): 1、每秒一百萬張二維圖像 2、無損表面形貌檢測和分析 3、高精度在線/離線檢測 4、模塊化設(shè)計(jì),超高集成靈活性 5、無需苛刻的工作環(huán)境(振動,噪聲,溫度等) 6、可應(yīng)用于科研和工業(yè)領(lǐng)域