同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。測量注意事項：⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當與試件相似。⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

四：開機測量僅測“0000”————（有測量符號并伴隨蜂鳴聲非正常斷電引起數(shù)據(jù)丟失可以試著系統(tǒng)校準恢復(fù)數(shù)據(jù)

五：儀器開機不能進入測量界面———（“全力以赴打造精品”不動了）

①探頭線是否連接良好有斷點，或探頭損壞

②其它主機線路故障---------咨詢公司售后服務(wù)或返廠檢修    

六：儀器開機無顯示（有背光有蜂鳴聲）———

①液晶模塊器件有故障

②儀器外力沖擊導(dǎo)致液晶排線斷裂

③相關(guān)主機線路故障-----咨詢公司售后服務(wù)或返廠檢修

七：儀器浸水浸油電池漏夜等受潮腐蝕———

建議返公司維修部鑒定，是否具有進一步處理的價值--------通常此類情況會嚴重影響儀器的穩(wěn)定性和耐用性。可酌情考慮更換儀器。

f 試件的變形測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。g 表面粗糙度基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。