牛津儀器工業(yè)分析部（Oxford Instruments IndustrialAnalysis）牛津儀器工業(yè)分析部提供多系列分析工具滿足各個(gè)行業(yè)嚴(yán)格的質(zhì)量控制要求。憑借30多年的XRF技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，牛津儀器的分析系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)各種材料（固體、液體、粉末、糊狀物、油脂、薄膜等）中元素組成的快速、無(wú)損檢測(cè)，同時(shí)也可實(shí)現(xiàn)樣品表面涂鍍層厚度或組成分析。X-MET手持式XRF分析儀和移動(dòng)式直讀光譜儀OES是對(duì)現(xiàn)場(chǎng)合金分類及PMI測(cè)試、ROHS中有害元素的檢測(cè)、質(zhì)量控制尤為重要的工具。我們的OES設(shè)備包括：ARC-MET、FOUNDRY-MASTER、FOUNDRY-MASTER COMPACT、PMI-MASTER PRO、PMI-MASTER SORT、TESTMASTER。Lab-X、Twin-X、ED2000及MDX1000各種XRF光譜儀應(yīng)用于各種不同領(lǐng)域產(chǎn)品的日常分析，如石油產(chǎn)品的硫含量的分析、水泥中鈣含量的分析。我們能提供多款性能可靠的光譜儀供您選擇以滿足您的分析需求。

基于用戶的分析需求，儀器可以定制成十種標(biāo)準(zhǔn)基體的任意組合。

CCD光學(xué)系統(tǒng)可以自由選擇120-800nm范圍內(nèi)的任意譜線用于分析線或參比線。光電管光學(xué)系統(tǒng)可設(shè)置108個(gè)光電倍增管。每個(gè)光電管通道都有是一個(gè)微積分器，具有TRS（時(shí)間分解光譜技術(shù)）分析痕量元素和SSE（單火花評(píng)估技術(shù)）分析元素相態(tài)。事實(shí)上，所有分析要求都可以在M12中無(wú)折衷地實(shí)現(xiàn)。

SPECTROGREEN所具有的其他特點(diǎn)包括：

1光譜透過(guò)率高

全光譜高透過(guò)率，紫外譜線分析能力，165納米到770納米的整個(gè)光譜區(qū)間獲得數(shù)倍于傳統(tǒng)垂直儀器的靈敏度。

2高迅捷

只需一次分析就能獲得整個(gè)光譜區(qū)段的譜線，這大大縮短了選擇觀察模式或進(jìn)行多次分析所花費(fèi)的時(shí)間。提高了實(shí)驗(yàn)室的工作效率。

3讀出速度快

新型GigE讀數(shù)系統(tǒng)和信號(hào)處理系統(tǒng)能夠在毫秒級(jí)的時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)全譜數(shù)據(jù)傳輸，并大幅提升整體處理速度，從而加快分析速度，所帶來(lái)的好處顯而易見(jiàn)，單位時(shí)間可分析更多樣品。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制