即使開(kāi)關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)，也需向接近開(kāi)關(guān)的檢測(cè)電路供給電流。漏電流時(shí)，負(fù)荷兩端產(chǎn)生“漏電流×負(fù)荷也是造成使用初期故障的原因。配線錯(cuò)誤或帶電作業(yè)引起負(fù)荷短路時(shí)，導(dǎo)致大電流流向檢測(cè)開(kāi)關(guān)，輸出回路燒毀。

在檢測(cè)開(kāi)關(guān)外進(jìn)行的保護(hù)對(duì)策，可使用切斷快速短路電流的方法，檢測(cè)開(kāi)關(guān)訂做，通過(guò)熔斷器進(jìn)行保護(hù)，不僅可保護(hù)負(fù)荷短路，檢測(cè)開(kāi)關(guān)多少錢，還對(duì)地線有保護(hù)作用。

檢測(cè)開(kāi)關(guān)直流2線式，該方式的接近開(kāi)關(guān)有2根導(dǎo)線，南京檢測(cè)開(kāi)關(guān)，因此，使用時(shí)對(duì)極性予以注意的話，不僅使用方法可與機(jī)械式限位開(kāi)關(guān)相同，檢測(cè)開(kāi)關(guān)廠家，而且配線簡(jiǎn)單。即使開(kāi)關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)，也需向接近開(kāi)關(guān)的檢測(cè)電路供給電流。

漏電流時(shí)，負(fù)荷兩端產(chǎn)生“漏電流×負(fù)荷也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時(shí)間，根據(jù)制造方法的不同而不同，不能一概而論。輸出晶體管中使用小容量的功率晶體管，則可進(jìn)行50～200mA電流的開(kāi)關(guān)。

檢測(cè)開(kāi)關(guān)雖小但能切換大電流的尺寸，當(dāng)電子線路閉合時(shí)，接點(diǎn)之間會(huì)出現(xiàn)稱為弧形的火花?；」怆娏髟酱?，越容易發(fā)生，切換接點(diǎn)的速度越慢，弧光持續(xù)的時(shí)間越長(zhǎng)，是造成接點(diǎn)不良的主要原因。

即使重復(fù)翻轉(zhuǎn)/封閉操作，檢測(cè)開(kāi)關(guān)也完全可以在同一方位上切換接點(diǎn)，因此方位檢測(cè)誤差小，適合于要求高精度的用途。它還具有快速組織檢測(cè)開(kāi)關(guān)所特有的優(yōu)點(diǎn)。

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