鋼研納克SparkCCD7000

高分辨率 CCD 檢測器

像素?cái)?shù)：3648 46 全行業(yè)較高

像素尺寸：8μm 全行業(yè)較小

精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N

萬級超凈環(huán)境下打造較優(yōu)光學(xué)系統(tǒng)

帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng)，無像差，分辨率均勻

高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業(yè)較高

線分辨率 0.7407nm/mm

像素分辨率 0.005926nm

譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系統(tǒng)，再啟動耗時(shí)行業(yè)較低

潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(jī)（關(guān)機(jī) 12 小時(shí)）啟動只需 30min，熱機(jī)啟動時(shí)間 5min

智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補(bǔ)充氣，降低氣消耗

60ml/min 超低待機(jī)流量，一瓶氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天

分片式曝光，痕量元素識別強(qiáng)度大幅提高，檢出限更低

一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回?cái)?shù)

獨(dú)立控制不同 CCD 的積分曝光時(shí)間

提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的檢出限

隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間，提升儀器的 穩(wěn)定性

直讀光譜儀器的誤差來源有哪些？

1)系統(tǒng)誤差也叫可測誤差，一般包括儀器的本身波動；樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測方法不一致，這樣檢測結(jié)果會有方法上的差異；同一種方法的檢測結(jié)果也存在一定的波動）；待測樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。

2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測時(shí)周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。

3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不準(zhǔn)確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測試樣存在制樣偏差，選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。

1000型光電直讀光譜儀定位于產(chǎn)品，通過改進(jìn)光室材質(zhì)、第三元素干擾校正模型、恒溫系統(tǒng)設(shè)計(jì)等提高了儀器的可靠性、穩(wěn)定性。鋼研納克副總經(jīng)理陳吉文說到，“近年來，鋼研納克光電直讀光譜儀的銷售業(yè)績一直保持著高于市場整體水平的增速，累計(jì)銷量已達(dá)到3000臺，處于國產(chǎn)光電直讀光譜儀市場地位。2014年鋼研納克的市場占有率高達(dá)30%-35%，即使與進(jìn)口品牌相比，占有率也是一。其中，1000型每年銷售臺數(shù)占公司的30%，百臺數(shù)量級?！?

直讀光譜儀取樣方法影響  

 取樣方法和對樣品的處理是光譜分析中影響分析精度和準(zhǔn)確度的重要而關(guān)鍵的因素。爐前分析時(shí)要對爐中鑄態(tài)的鋼樣采取快速紅切的方式進(jìn)行，如果檢測的樣品存在裂紋、雜質(zhì)和氣孔等問題，要重新進(jìn)行取樣檢測。對于低碳鋼材料要將其置入流水中進(jìn)行驟降溫處理，確保樣品組織結(jié)構(gòu)形成馬氏體和奧氏體，從而有效提升碳的分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。但要引起注意的是，對于高碳樣品進(jìn)行切割后，不能采取驟降溫的方式進(jìn)行處理，防止因?yàn)轶E降溫引發(fā)裂縫發(fā)生。另外，對于鑄鐵和球墨鑄鐵的檢測和分析，要確保所檢測的樣品進(jìn)行白口化，并確保取樣的溫度、脫模時(shí)間、冷卻速度標(biāo)準(zhǔn)和統(tǒng)一。另外不同材料的檢測分析，要選擇適合的研磨工具，通常使用氧化鋁砂輪片進(jìn)行打磨，要注意打磨的顆粒處于中等狀態(tài)，不能太粗或太細(xì)。需要強(qiáng)調(diào)的是，試樣樣品的表面要打磨掉0.5至1.5毫米，除去樣品表面的氧化層，防止檢測結(jié)果的不準(zhǔn)確，氧化層對碳的分析結(jié)果的準(zhǔn)確性影響更大。