MikroTest涂層測厚儀測量原理及應(yīng)用

所有MikroTest涂層測厚儀都是依據(jù)磁吸力的測量原理進行設(shè)計生產(chǎn)的。測量磁鋼與磁性基體間的磁吸力與盤狀彈簧的彈力平衡，盤狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度有直接關(guān)系。

MikroTest涂層測厚儀中G6，F(xiàn)6，G7，F(xiàn)7，S3，S5，S10和S20型主要用于測量鋼鐵基體上的非磁性涂鍍層；Ni50和Ni100主要用于測量銅鋁塑料基底上鍍鎳；NiFe50主要用于測量鋼鐵基體上的鍍鎳層。

MikroTest涂層測厚儀使用過程中注意事項

推動指輪時，不要觸動按鈕；MINITEST403/405系列超聲波壁厚測厚儀連續(xù)模式每秒讀數(shù)17個。 盡量保證測量點與兩支撐點在同一平面上； 在粗糙表面測量時，讀數(shù)將偏大。要多次測量求取平均值； 測量柱體或圓形邊緣時，一定要利用儀器測嘴的V型口； 測量含碳量高或經(jīng)過熱處理后的硬質(zhì)鋼上涂層時，測值會偏大； 基體厚度小于臨界厚度時，測值會偏大； 在凸凹測量會對測值有影響，在凸面時測值偏大、凹面時測值偏?。?

涂層測厚儀

引起涂鍍層測厚儀測量誤差大的原因我們在以前的文章中已經(jīng)介紹很清楚了，這里我們在簡單介紹一下引起測量誤差較大的原因主要有：基體金屬磁化、基體金屬厚度過小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過小、表面粗糙度過大、磁場干擾探頭的放置方法等，新來的朋友可以參考儀器的文章熟悉一下我們就不一一做介紹了。MiniTest600涂層測厚儀的測量中的相關(guān)注意事項測量前一定要在表面曲率半徑、基體材料、厚度、測量面積都與被測樣本相同的無涂層的底材上較零，才可以保證測量的精準性。

引起涂鍍層測厚儀測量誤差大的原因我們在以前的文章中已經(jīng)介紹很清楚了，這里我們在簡單介紹一下引起測量誤差較大的原因主要有：基體金屬磁化、基體金屬厚度過小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過小、表面粗糙度過大、磁場干擾探頭的放置方法等，新來的朋友可以參考儀器的文章熟悉一下我們就不一一做介紹了。可通過中期或最終厚度測量對加工操作進行監(jiān)控，還可用于精密測量塑料元件的厚度。