手持光譜儀——產(chǎn)品介紹

該產(chǎn)品是基于X射線理論而誕生的，它主要用于航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。是伴隨世界經(jīng)濟崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域必不可少的快速成份鑒定工具。是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。

手持光譜儀——產(chǎn)品概述

每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子(負(fù)電微粒)運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子(正電微粒)數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應(yīng)固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。 能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道較為接近核子，每個電子軌道則對應(yīng)某元素一個個特定的能量層。

手持式光譜在鍍層測厚的應(yīng)用

要使電鍍過程具有科技的或工業(yè)的價值，需要對電鍍過程進行控制，也就是要按照一定的工藝流程和工藝要求來進行電鍍，并且還要用到某些輔助設(shè)備和管理設(shè)備。若工件中鍍層厚度不達標(biāo)，則會帶來很多壞處：對于陽極性鍍層，鍍層如果過薄可能會經(jīng)不起犧牲腐蝕會先使基體產(chǎn)生銹蝕。而一個制件部分銹蝕后則已不合格。若為保證工件基體不生銹，只能加大鍍層厚度，而鍍層厚度過厚則會導(dǎo)致電鍍成本增大。